Anton Paar HTK 1200N est conçu pour la diffraction des rayons X sur poudre dans les géométries de réflexion et de transmission avec chauffage environnemental de l'échantillon jusqu'à 1200 ºC dans l'air, l'atmosphère inerte ou le vide. Grâce à la géométrie de l'élément chauffant, il n'y a pratiquement aucune restriction sur l'épaisseur de l'échantillon. Par conséquent, avec les poudres organiques ou inorganiques, le comportement à haute température des échantillons en vrac peut également être étudié avec cette chambre. Le thermocouple est placé juste en dessous de l'échantillon pour une mesure et un contrôle précis de la température. L'oscillation facultative de la table d'échantillon permet d'améliorer les statistiques de particules pour l'analyse XRD sur poudre dans la géométrie de réflexion. Un accessoire de capillaire tournant en option permet de mesurer la géométrie de transmission des matériaux ou des échantillons très sensibles à l'air avec une forte tendance à l'orientation préférée. La préparation et l'échange des échantillons sont très simples et faciles.
Présentation générale
De la XRD conventionnelle aux mesures SAXS et de réflectivité de base
Grâce à la conception du HTK 1200N, la gamme d'applications possibles est large, de la diffraction des rayons X in situ conventionnelle sur les échantillons sur poudre et en vrac à l'analyse de base de couches minces et aux mesures de contrainte résiduelle. En outre, la diffusion de base des rayons X à petit angle (SAXS) et la diffusion totale des rayons X pour l'analyse de la fonction de distribution des paires (PDF) peuvent également être effectuées avec cette chambre.