Analizadores de XRF

Espectrómetros de XRF expertos para el análisis de composición elemental

Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X (XRF) son potentes instrumentos analíticos diseñados para revelar la composición elemental de diversos materiales. Estos dispositivos versátiles desempeñan un papel fundamental en la investigación científica, el control de calidad y las aplicaciones de la industria

Los analizadores de XRF sobresalen en el análisis elemental. Mediante la medición de las energías e intensidades de los rayos X emitidos, identifican qué elementos están presentes y en qué concentraciones. Esta información es invaluable en campos como la geología, la metalurgia, la arqueología y las ciencias medioambientales, en las que conocer la composición elemental es crucial.

Revontium

Brillo compacto, análisis potente y posibilidades infinitas
Revontium

Zetium

Excelencia elemental
Zetium

2830 ZT

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores
2830 ZT

Epsilon 1

Analizador XRF pequeño, potente y portátil
Epsilon 1

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso
Epsilon 4

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción
Epsilon Xflow

Epsilon Xline

Control en línea para procesos continuos de rollo a rollo
Epsilon Xline

Gama de equipos CNA

Analizadores elementales en línea para un control eficaz de muchos procesos...
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Axios FAST

Alto rendimiento de muestras
Axios FAST

¿Qué mediciones puede realizar un analizador de XRF?

Los analizadores de XRF son instrumentos versátiles reconocidos por su capacidad para proporcionar análisis elementales precisos y no destructivos. Estos analizadores son invaluables en varios campos por su capacidad para ofrecer una amplia gama de mediciones e información.

Cuantificación elemental

La función principal de la instrumentación de XRF es la cuantificación elemental. Con la exposición de una muestra a rayos X de alta energía, un analizador de XRF puede medir con precisión la concentración de elementos dentro de esa muestra. 

Esta cuantificación se extiende a toda la tabla periódica, desde elementos ligeros, como el carbono y el oxígeno, hasta metales pesados, como el plomo y el uranio. Investigadores, fabricantes y profesionales de control de calidad dependen de las máquinas de XRF para obtener datos elementales exactos.

Análisis no destructivo

Una de las características más destacadas del análisis de XRF es su naturaleza no destructiva. Los métodos de análisis químicos tradicionales, como el plasma de acoplamiento inductivo (ICP, del inglés “Inductive Coupling Plasma”), a menudo requieren la destrucción o disolución de las muestras, lo que imposibilita someterlas a pruebas o conservarlas posteriormente. 

Los espectrómetros de XRF, sin embargo, permiten examinar materiales sin alterarlos ni dañarlos. Esto los hace invaluables para analizar obras de arte valiosas, artefactos históricos o muestras geológicas irremplazables.

Análisis multielemento

Los analizadores de XRF sobresalen en el análisis multielemento. Pueden detectar y cuantificar simultáneamente varios elementos dentro de una sola muestra, lo que ofrece una imagen completa de su composición. 

Esta capacidad es particularmente ventajosa cuando se trata de materiales complejos, aleaciones o muestras geológicas con diversos componentes elementales.

Análisis de materiales

Los instrumentos de análisis de XRF no se limitan a un tipo específico de material. Pueden analizar una amplia variedad de tipos de muestras, entre los que se incluyen los siguientes:

  • Sólidos: metales, aleaciones, polímeros, cerámicas, minerales y muestras geológicas.
  • Líquidos: soluciones, lodos e incluso aceites.
  • Polvos: polvos farmacéuticos, metales en polvo y más.

Esta versatilidad garantiza que las máquinas de XRF se puedan aplicar en diversas industrias, desde la fabricación y los productos farmacéuticos hasta la geología y las ciencias medioambientales.

Ejemplos de elementos medidos

Los analizadores de XRF pueden medir una amplia gama de elementos, incluidos, entre otros:

  • Metales comunes, como hierro, cobre y aluminio.
  • Metales preciosos, como oro, plata y platino.
  • Contaminantes para el medioambiente, como plomo, arsénico y mercurio.
  • Elementos de tierras raras, como neodimio y europio.

Ya sea que esté caracterizando materiales, garantizando la calidad de los productos o realizando investigaciones científicas, los espectrómetros de XRF son herramientas indispensables para el análisis elemental en diversas industrias.

¿Por qué debería elegir nuestros instrumentos de XRF?

Malvern Panalytical ofrece una gama versátil de espectrómetros de fluorescencia de rayos X y productos relacionados para el análisis elemental y de películas finas. Estos analizadores de fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”) son apropiados para una amplia gama de requisitos de análisis y rendimiento y entornos de operación. La gama de espectrómetros va desde sistemas de XRF de laboratorio de dispersión de energía hasta sistemas de XRF de dispersión de longitud de onda de alto rendimiento y productos para la medición de semiconductores.

Los analizadores de XRF pueden configurarse con opciones de software especializado para tipos específicos de análisis de fluorescencia por rayos X. En combinación con módulos de aplicación (configuración de la aplicación, calibración y estándares) o como un paquete con productos de preparación de muestras, se crean soluciones analíticas completas. Todos los productos Malvern Panalytical tienen el respaldo de nuestra organización posventa y servicio al cliente.

En nuestro Centro de conocimientos, encontrará más información sobre las muchas aplicaciones de XRF interesantes que son posibles con nuestros espectrómetros.

Revontium

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Brillo compacto, análisis potente y posibilidades infinitas

Zetium

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Excelencia elemental

Gama Epsilon

Gama Epsilon

Análisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea

Epsilon Xflow

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Información directa en sus procesos de producción

2830 ZT

2830 ZT

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

Axios FAST

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Alto rendimiento de muestras

Tipo de medición
Metrología de película delgada
Análisis elemental
Detección y análisis de contaminantes
Cuantificación elemental
Identificación química
Tecnología
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Rango primario
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolución (Mg-Ka)
Rendimiento de muestra
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF