Diseñado conforme a la experiencia y el éxito del alcance comprobado de los espectrómetros de XRF Epsilon 3, el Epsilon 4 es un analizador XRF multifuncional de mesa para cualquier segmento industrial que necesite un análisis elemental, de flúor (F) a americio (Am), en áreas que van desde I+D hasta el control de proceso. Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un software optimizado y un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso de XRF más potentes.
Ediciones de la industria
Epsilon 4 para minería y minerales
Epsilon 4 para aceites y combustibles
Epsilon 4 para aceites lubricantes
Epsilon 4 para farmacéutica y cosméticos
Epsilon 4 para alimentos y medioambiente
Epsilon 4 para materiales de construcción
Epsilon 4 Plásticos y pinturas de polímeros
Información general
Epsilon 4 en cualquier lugar
Debido a sus bajos requisitos de infraestructura, el Epsilon 4 se puede colocar cerca de la línea de producción, en cualquier parte del proceso. Su alto rendimiento permite que la mayoría de las aplicaciones se pueda operar en condiciones ambientales, lo que reduce los costos para el mantenimiento del helio o del vacío.
Valor más allá del análisis
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía para el análisis elemental varía desde el carbono (C) hasta el americio (Am), y la concentración varía desde sub-ppm hasta 100 wt%.
Utilice Omnian para el análisis sin estándares, utilice FingerPrint para las pruebas de materiales cuando el análisis de velocidad es importante o utilice Strator para un análisis rápido, simple y no destructivo de recubrimientos, capas superficiales y estructuras de multicapa. También se puede utilizar la seguridad de datos mejorada que respalda el cumplimiento con reglamentos como la sección 11 de FDA 21 CFR o utilizar Oil-Trace para cuantificar las mezclas de combustibles y biocombustibles para aceites lubricantes nuevos y usados.
Listo para cualquier tipo de muestra
El Epsilon 4 maneja una amplia variedad de tipos de muestra, como sólidos, polvos sueltos y compactos, líquidos y filtros. Realiza análisis cuantitativos no destructivos de elementos, desde carbono (C) y flúor hasta americio (Am), en concentraciones de un 100 % por debajo de los niveles sub-ppm en muestras que pesan unos pocos miligramos o kilogramos.
El Epsilon 4 es una alternativa sólida y confiable con respecto a los sistemas convencionales para una amplia variedad de industrias y aplicaciones, incluso cuando el análisis de elementos livianos es de máxima importancia, como producción de cemento, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, detección y cuantificación de RoHS, petróleo y petroquímicos, polímeros e industrias relacionadas, producción de vidrio, ciencia forense, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud, sector medioambiental, alimentos y cosméticos.
Características
Configuraciones flexibles
El Epsilon 4 es una herramienta analítica altamente flexible en una versión de 10 vatios para el análisis elemental (F a Am) en áreas que van desde I+D hasta control del proceso. Incluso para un rendimiento mayor de muestras o capacidades extendidas de los elementos livianos y en ambientes más exigentes, se encuentra disponible una versión de 15 vatios, que incluso puede analizar carbono, nitrógeno y oxígeno.
Últimos avances
Los instrumentos Epsilon 4 combinan las tecnologías de excitación y detección más recientes con el moderno software de análisis. El tubos de rayos X de 15 vatios, en combinación con la alta corriente (3 mA), el detector SDD30 de deriva de silicio más reciente y un diseño compacto de trayectoria óptica, proporciona incluso un mejor rendimiento analítico que la EDXRF de 50 vatios de potencia y que los sistemas de WDXRF para mesas de trabajo, con el beneficio adicional de eficiencia de potencia.
Rapidez y sensibilidad
Las mediciones rápidas se logran con el uso de la tecnología más reciente de detector de deriva de silicio que produce intensidades significativamente mayores.
La electrónica del detector única posibilita una capacidad lineal de velocidad de conteo alta de más de 1 500 000 cps (a tiempo muerto del 50 %) y una resolución independiente de velocidad de conteo generalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro del Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, que brinde un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.
Menor consumo de helio
El alto rendimiento del Epsilon 4 permite que muchas aplicaciones se operen en una atmósfera de aire, sin tiempos prolongados ni costos relacionados con el helio o el mantenimiento del sistema de vacío. Cuando se mide en aire, los fotones de rayos X de baja energía característicos del sodio, magnesio y aluminio son sensibles a las variaciones en la presión y la temperatura del aire. Los sensores integrados de temperatura y de presión de aire compensan las variaciones medioambientales, lo que asegura resultados excelentes sin importar el clima.
Especificación
Manipulación de muestras | Tubos de rayos X | Detector | Software |
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Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones | Ventana lateral de metal y cerámica para una máxima estabilidad | Detector de deriva de silicio (SDD), generalmente de 135 eV a Mn-Kα | Detección elemental con solución de análisis sin estándares de Omnian |
El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2") de diámetro | Ventana delgada de berilio de 50 micrómetros para una alta sensibilidad de elementos livianos (Na, Mg, Al, Si) | Velocidad de conteo máxima de 1 500 000 conteos por segundo a tiempo muerto del 50 % | Análisis de APROBACIÓN/FALLA con la solución FingerPrint |
Se incluye centrifugador para una mejor precisión del análisis del filtro de aire | Tubo de rayos X del ánodo de Ag para el mejor rendimiento de análisis de P, S y CI | Ventana de entrada delgada del detector para una alta sensibilidad | Seguridad de datos mejorada para ambientes regulados |
Modo para analizar muestras grandes de hasta 10 cm de altura |
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Stratos para muestras de capas múltiples |
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Una calibración flexible para metales de desgaste en aceites lubricantes nuevos y usados mediante Oil-Trace |
Accesorios
Estándares (materiales de referencia)
ADPOL
WROXI
LAS
RoHS
TOXEL
CRM
Software
Software Epsilon
El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical.
Stratos
Omnian
El software Omnian permite a los usuarios obtener el mejor análisis posible cuando no hay disponibles métodos especializados o normas certificadas.
Oil-Trace
FingerPrint
Un módulo de software de FingerPrint, combinado con un sistema de EDXRF Epsilon, es ideal para la prueba de materiales cuando la velocidad del análisis es importante, pero la composición real no es de interés.
Seguridad de datos mejorada
Soporte
Servicios
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Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
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