Software Epsilon
Paquete de software de EDXRF analítico para sistemas Epsilon. El análisis diario de XRF se puede llevar a cabo fácilmente por personal sin experiencia después de una capacitación mínima.
Información general
- Control del proceso en línea no destructivo: no se requiere muestreo
- Gama de modos de escaneo para acomodar parches continuamente y procesos de recubrimiento de carriles múltiples
- Fácil de integrar en los procesos de producción con protocolos de comunicación estándar
- Capaz de medir todos los elementos valiosos de interés, incluidos platino y cerio
- Capaz de medir capas delgadas con excelente precisión
- Acomoda una variedad de anchos de rollo
- Brazo robótico patentado único que proporciona un control óptimo de la distancia cuando se pasa el cabezal de medición sobre la línea de producción en todas las direcciones
Enfrentar los desafíos de la producción de celdas de combustible
Con los catalizadores de platino que representan más del 20 % de sus costos totales de celdas de combustible, es esencial optimizar el recubrimiento del catalizador a través de una dispersión uniforme y capas coherentes. ¡Y el monitoreo de procesos rápido y preciso es la solución ideal! El Epsilon Xline facilita el control operativo eficiente y lo ayuda a realizar lo siguiente:
- Minimizar su producción fuera de las especificaciones
- Ahorrar valioso platino de ser desperdiciado
- Elaborar productos finales competitivos y rentables
Características
- Automatización completa en línea . Disfrute de una producción continua de R2R gracias a las capacidades de integración sin problemas de Epsilon Xline, adecuadas para una amplia gama de aplicaciones de película delgada y recubrimiento.
- Sencillo y seguro . El Epsilon Xline es totalmente seguro y fácil de usar, a diferencia de los instrumentos portátiles o heredados, y ofrece datos analíticos de alta precisión.
- Un ciclo de vida de experiencia . Basado en los más de 70 años de experiencia de Malvern Panalytical en análisis elemental , el Epsilon Xline se desarrolló en colaboración con nuestros socios de la industria para satisfacer sus necesidades actuales y, al mismo tiempo, considerar juntos el futuro de la industria.
- Rendimiento maximizado . Logre una producción rentable con monitoreo en tiempo real y sin interrupciones, lo que le brinda la información y el control directos que necesita para aprovechar al máximo sus operaciones.
- Eficiencia óptima de los materiales . Elimine las inconsistencias, evite el desperdicio de materiales preciosos y garantice un producto de alta calidad con nuestra solución estándar de la industria.
- Precisión probada y patentada . Desarrollado y probado con los clientes, el Epsilon Xline cuenta con tecnología patentada de corrección de altura que garantiza un análisis estable para obtener resultados precisos.
Tecnología probada
Análisis elemental en su proceso
La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”) es una tecnología de análisis elemental no destructiva que permite el monitoreo en línea durante los procesos de recubrimiento de membranas catalíticas, sin necesidad de tomar muestras y sin cambios químicos o físicos.
El análisis en línea con resultados en tiempo real permite una optimización rápida de muchos parámetros de procesos y propiedades del producto.
Mediciones altamente reproducibles y precisas con poco mantenimiento
La tecnología probada y robusta utilizada en el Epsilon Xline y en toda nuestra serie de instrumentos Epsilon está impulsada por los últimos avances en tecnología de excitación y detección. Un camino óptico bien diseñado, una amplia gama de capacidades de excitación para elementos ligeros y pesados, y un rápido sistema detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución contribuyen a la potencia del Epsilon Xline. Estas innovaciones generan resultados altamente reproducibles y precisos que requieren bajo mantenimiento.
Especificación
| Manipulación de muestras | |
|---|---|
| Tipo de muestra | Línea de recubrimiento |
| Tipos de recubrimiento | Continuos, de carriles, de parches |
| La velocidad de la línea continúa el recubrimiento | Máximo de 30 m/min |
| Revestimiento de parche de velocidad de línea | Máximo de 11 m/min |
| Tubos de rayos X | |
| Tipo | Metal-cerámica, ventana lateral |
| Material del ánodo | Ag |
| Configuración de tubos | Controlado por software, voltajes aplicables de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potencia máx. del tubo de 15 W |
| Filtros del tubo | Seis programas seleccionables en el software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm) |
| Espesor de la ventana | 50 µm (Be) |
| Detector | |
| Tipo | Detector de deriva de silicio de alta resolución SDD10 |
| Ventana | 8 µm (Be) |
| Resolución | <145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Generalmente, 135 eV a 5,9 keV/1000 cps |
| Estándares de seguridad | |
| Radiación | <1 µSv/h a 10 cm de la superficie exterior |
Conectividad incorporada
Integre el Epsilon Xline en sus líneas de producción a la perfección con conectividad a OPC integrada. El paquete de software dedicado que se incluye facilita la configuración de su Epsilon Xline para diferentes materiales y modos de medición. Mediante el ingreso de comandos directamente al instrumento, o a través de una consola remota, la interfaz fácil de usar muestra una visión general de los datos de seguimiento completos.
Software Stratos
Determinación de la composición y el espesor de los recubrimientos y la multicapa, lo que permite la determinación simultánea de la composición química y el espesor de los materiales en capas.
Soporte
Estamos aquí para ayudar.
En Malvern Panalytical, no solo invierte en un instrumento, sino que invierte en años de servicio al cliente de alta calidad y una vida útil de soporte de equipos. Nuestros ingenieros de servicio y la red global de atención al cliente siempre están en espera con una gama de asesoramiento y soporte de experiencia, así que no dude en comunicarse con nosotros cuando nos necesite.
