Aeris
Prepárese para sorprenderse con nuestro sistema XRD rápido y de alta precisión. Los resultados precisos pueden estar listos en menos de cinco minutos.
Download the brochure - In-operando XRD battery research and quality control solutions. Download now
Download nowServimos a la comunidad de difracción de rayos X desde hace casi un siglo
Los difractómetros de rayos X Malvern Panalytical están diseñados para obtener la máxima calidad de datos de difracción, en combinación con la facilidad de uso y la flexibilidad para cambiar rápidamente a diferentes aplicaciones.
Nuestros difractómetros son utilizados en muchos entornos, desde universidades e institutos de investigación hasta laboratorios de control de procesos industriales. Cualquiera sea el tipo de difracción de rayos X (XRD) que necesite, ofrecemos el instrumento adecuado, respaldado por nuestra organización mundial de ventas y servicio.
Nuestros difractómetros polifuncionales (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) están equipados con módulos PreFIX (rayos X de intercambio rápido prealineados), lo que ofrece un cambio sencillo para el usuario en la trayectoria óptica. Por este motivo, ofrecemos la mayoría de las aplicaciones en una sola plataforma de difractómetros. Obtenga más información en nuestro centro de conocimientos acerca de las diversas y emocionantes aplicaciones de XRD que ofrece nuestro equipo.
Nuestras soluciones de orientación de cristal están diseñadas teniendo en cuenta aplicaciones de bolas, lingotes, discos y obleas.
Nuestra gama de soluciones de orientación de cristales está diseñada teniendo en cuenta aplicaciones de lingotes, obleas y cristales. La orientación de los cristales se simplifica en una variedad de entornos con nuestros instrumentos: desde análisis en línea hasta investigación de escritorio, lo tenemos cubierto.
AerisEl futuro es compacto |
Gama EmpyreanLa solución polifuncional para sus necesidades analíticas |
X'Pert³La plataforma X'Pert mejorada |
Gama Crystal OrientationOrientación rápida y precisa de obleas y lingotes |
|
|---|---|---|---|---|
| Tecnología | ||||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||||
| Tipo de medición | ||||
| Forma de partícula | ||||
| Tamaño de partícula | ||||
| Determinación de la estructura de cristal | ||||
| Identificación de fases | ||||
| Cuantificación de fases | ||||
| Detección y análisis de contaminantes | ||||
| Análisis de epitaxia | ||||
| Rugosidad de interfaz | ||||
| Imágenes y estructuras 3D | ||||
| Metrología de película delgada | ||||
| Esfuerzo residual | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||