Funciona con Características y beneficios
Preparado para el futuro
Como un difractómetro moderno y multipropósito*, el diseño modular de Aeris hace que las actualizaciones y adiciones opcionales sean sencillas, y la disponibilidad garantizada del producto supone tranquilidad para el futuro.
* Condiciones no ambientales, reflexión, transmisión, incidencia de grazado, difracción 2D.
Fácil de usar
Con Aeris, no todos los usuarios necesitan experiencia en XRD. Su interfaz intuitiva, los programas de medición precargados y la facilidad para colocar las muestras permiten que todos puedan obtener resultados reproducibles.
Carga de muestras fácil y reproducible
Los soportes para muestras fabricados con precisión de Aeris y el sistema de carga externo facilitan que todos los usuarios carguen las muestras correctamente siempre, para cada tipo de muestra, desde polvos hasta sólidos.
Compatibilidad con entornos regulados
Con el acceso controlado de los usuarios y el software de cumplimiento, Aeris está listo para todos los flujos de trabajo regulados (de acuerdo con la regulación 21 CFR Parte 11). Gestión sencilla de múltiples usuarios.
Rápido y preciso
Con su goniómetro clásico y su computadora integrada, los componentes de alto rendimiento de Aeris y las plataformas de muestra de precisión proporcionan resultados exactos en tan solo cinco minutos.
El futuro es compacto
Testimonio
Gran rentabilidad de compra, rápido y fácil de usar, datos fantásticos: ¡una gran oportunidad!
Damian G. Investigación
Especificación
| Manipulación de muestras | |
|---|---|
| Carga de muestras | Carga externa de muestras |
| Soportes para muestras | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestras | Cambiador de muestras de tamaño completo con seis posiciones |
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Generación de rayos X | |
| Longitudes de onda | Cu o Co |
| Configuración de tubos | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Alojamiento de tubos | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path)*.
* La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2. |
| Goniómetro | |
| Configuración | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
| Geometría | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radio | 145 mm |
| Rango de 2θ máximo | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Posicionamiento del ángulo | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Velocidad de exploración | Máx. 2,17°/s |
| Resolución alcanzable | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| Linealidad 2θ | <0,04° 2θ |
| Incremento direccionable más pequeño | 0,001 grados |
| Plataformas | |
| Giros | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
| Condiciones no ambientales | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Intercambio de plataformas | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Plataformas especiales | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detectores | |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D, PIXcel3D y 1Der |
| General | |
| Dimensiones (Al. x An. x F.) | 690 mm x 770 mm x 786 mm/27 in x 30 in x 31 in |
| Protección contra el polvo | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| Suministro externo de agua de enfriamiento | No es necesario |
| Suministro de aire comprimido | No es necesario |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interfaces | LAN, USB, HDMI |
Accesorios
Soluciones de software
Los instrumentos y las mediciones de Aeris se ejecutan mediante su software de recopilación de datos integrado con programas de medición precargados. Los usuarios también pueden escribir sus propios programas.
Para la cuantificación de fases, contenido amorfo, etc., el software integrado RoboRiet puede realizar análisis automatizados con visualización inmediata en pantalla y transferencia a bases de datos de resultados.
La medición y el análisis también pueden automatizarse mediante X’Pert Industry. Industry ofrece una función de scripting única para personalizar la recopilación de datos y los métodos de cuantificación basados en líneas de calibración para cualquier aplicación de control de procesos. Los informes de resultados también se pueden configurar por completo para sistemas LIMS.
También puede realizar sus propios análisis en profundidad gracias a nuestros paquetes informáticos HighScore Plus o Stress Plus.
Para el cumplimiento normativo y la integridad de los datos, Omnitrust cubre los requisitos de gestión de usuarios y auditoría de datos en un entorno regulado.
RoboRiet
Una implementación especial “solo de ejecución” del método Rietveld y de asentamientos de perfiles para la cuantificación de fases de XRD, cuantificación de fase amorfa y mucho más.
Industry
Software para el análisis de difracción de rayos X de rutina en un entorno industrial, que va desde sistemas no regulados hasta completamente regulados, y desde sistemas manuales controlados hasta sistemas completamente automatizados.
HighScore Plus
Tras la identificación de todas las fases presentes en su muestra, este paquete de software todo en uno seguirá prestando apoyo a su análisis, desde la cuantificación con o sin el método Rietveld hasta el ajuste de perfiles y el tratamiento de patrones.
Stress Plus
El software Stress Plus está dedicado al análisis de difracción de rayos X (XRD) de tensión residual en recubrimientos policristalinos. El software realiza análisis de esfuerzo residual sin²ψ con técnicas unidireccionales y multidireccionales.
Ediciones especializadas
Aeris facilita la caracterización y el análisis de cualquier muestra tanto en entornos de investigación como industriales. Sin embargo, a veces su aplicación necesita una solución especializada, o necesita que su sistema alternativo a un sistema de xrd de sobremesa esté calibrado y listo para la acción.
Para satisfacer esta necesidad, también se ofrecen ediciones de Aeris adaptadas y específicas para el sector. Estas versiones industriales especializadas incluyen paquetes de conocimientos personalizables, precalibrados para sus métodos analíticos o material de muestra específicos. Su Aeris estará preparado para la medición y el análisis automatizados mediante el software Roboriet incorporado. ¡Listo cuando usted lo esté!
Encuentre su edición a continuación:
Edición Research de Aeris
Edición Cement de Aeris
Edición Minerals de Aeris
Edición Metals de Aeris
Aeris para aplicaciones farmacéuticas
Soporte
Servicios
Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Soporte
Servicio durante toda la vida útil
- Asistencia telefónica y remota
- Mantenimiento preventivo y revisiones
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Experiencia
Agregamos valor a sus procesos
- Desarrollo y optimización de preparación de muestras
- Metodologías analíticas
- Soluciones listas para usar para XRD
- Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
- Servicios de asesoría
Capacitación y educación
- Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
- Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software
