Data Collector
O Data Collector é o seu painel de controle para todas as medições feitas em pós, filmes finos, nanomateriais e objetos sólidos.
Nossos pacotes de software de DRX são projetados para extrair cada bit de informação de um material.
Em nossos instrumentos, oferecemos softwares intuitivos para a coleta de dados, adaptados para uso em pesquisas ou em controle de processos, além de módulos de análise modernos para as diversas aplicações de DRX possíveis.
Com esses módulos de software, você pode desfrutar de todas as funcionalidades do seu Empyrean, X’Pert³ Powder ou X’Pert³ MRD multifuncional.
O Data Collector é a caixa de ferramentas do software central de aquisição de dados para Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) e X’Pert³ Powder. O XRD2DScan possibilita a conversão fácil de conjuntos de dados em 2D para traçados 1D para análises adicionais.
Controle seu CubiX³ ou X’Pert³ Powder para medições de difração de pó e obtenha resultados quantitativos com base na linha de calibração.
O Industry foi projetado para ambientes industriais com interface por botões e amplos recursos de LIMS e automação. Com a interface Walk-up opcional, os ambientes de vários usuários são totalmente compatíveis. O Quantify é uma versão simplificada com 10 módulos de análise quantitativa pré-programados.
Nossa família HighScore de softwares para difração de pós foi projetada para extrair todas as informações de fase de pós soltos e prensados e outras amostras policristalinas.
Saiba mais sobre o HighScore, o software de correspondência de pesquisa mais avançado do mundo, com seu amplo suporte a vários bancos de dados de correspondência de pesquisa, como o CanDI-X. A opção HighScore Plus oferece rotinas adicionais para cristalografia, cluster ilimitado e análise por Rietveld, além de todas as funcionalidades do HighScore. O RoboRiet oferece perfil e quantificação por Rietveld "somente execução", ideal para ambientes industriais.
Com os nossos módulos de software para filmes finos, você pode obter informações detalhadas sobre espessura, composição, orientação preferencial, qualidade epitaxial e tensão residual presente nas camadas.
Esses parâmetros essenciais de camada fina são quantificados de maneira rápida e fácil com o novo pacote completo de software de simulação e análise de material avançado (AMASS).
Para camadas policristalinas e pilhas de camadas, é possível determinar a composição da fase, também como uma função de profundidade, com nosso software HighScore, e determinar as tensões residuais com nosso software Stress Plus.
Software EasySAXS para análise de dados de nanopartículas e nanoestruturas. Ele oferece informações sobre estruturas e dimensões em nanoescala, formatos de nanopartículas e áreas de superfície.
O software também é compatível com a análise de dispersão de raios X em ângulo ultrapequeno (USAXS).
Nossos módulos de software de Texture e Stress revelam a orientação preferencial e as tensões residuais presentes nos componentes usinados, como metais laminados e extrudados.
O Stress é elogiado por especialistas de todo o mundo por sua funcionalidade extensa e intuitiva. O módulo opcional Stress Plus agrega a análise de tensão residual em filmes finos ao pacote Stress.
O Texture oferece uma ampla funcionalidade para análise de figuras de polo, funções de distribuição de orientação (ODFs) e figuras de polo inverso.
