Características
Análise de revestimentos com maior sensibilidade
Uma técnica comumente usada na análise de difração de raios X de revestimentos policristalinos orientados aleatoriamente é aumentar a sensibilidade do sinal de DRX aplicando um ângulo de incidência rasante dos raios X. Nessa geometria, a análise clássica de tensão residual não é mais possível. Para superar essa limitação, a Malvern Panalytical e seu parceiro de colaboração, o Max Planck Institute Stuttgart (Alemanha), desenvolveram modificações pioneiras para a tensão residual sin²ψ clássica. Os dados de vários picos {hkl} são combinados e um algoritmo de conversão calcula verdadeiros ψ-tilts para todas as combinações possíveis de ângulos do instrumento.
Análise de revestimentos com forte orientação preferencial
Às vezes, uma orientação preferencial é aplicada deliberadamente aos revestimentos para melhorar as propriedades dele, por exemplo, para maximizar a resistência ao desgaste. Assim como os revestimentos com maior sensibilidade, a tensão residual sin²ψ tradicional não é possível em materiais com orientação preferencial. Em vez disso, os dados são coletados aplicando uma chi tilt a análises simétricas normais para medir planos de cela, que não são paralelos à superfície da amostra. O Stress Plus permite que dados de diferentes picos {hkl}, cada um com sua própria inclinação, sejam combinados em uma plotagem sin²ψ modificada. O Stress Plus considera automaticamente os picos de deslocamento devido à tensão, atribuindo índices Miller corretos e identificando picos de revestimento e substrato ou subcamada.
Fácil de configurar e usar
As medições de tensão residual em revestimentos são totalmente compatíveis com o Data Collector e o Stress Plus. O Data Collector contém programas especiais de medição para configurar a estratégia de coleta de dados. O Stress Plus usa todos os parâmetros do arquivo .XRDML e gera os valores de tensão residual da mesma forma intuitiva que o programa Stress.
Liberdade experimental
O Stress Plus calcula instantaneamente todos os resultados intermediários e os dados finais de tensão. A influência de todos os parâmetros é diretamente refletida no resultado final. A opção de analisar conjuntos de dados combinados de vários arquivos de dados proporciona liberdade experimental completa. Dados adicionais podem ser incluídos a qualquer momento. Os padrões configuráveis pelo usuário e o recálculo instantâneo dos resultados com base em uma alteração dos parâmetros de entrada tornam o Stress Plus ideal para aplicações de análise de rotina e de pesquisa.
Especificação
Sistemas de medição
Os seguintes sistemas podem ser usados para coletar e armazenar dados de tensão:
- Empyrean com Data Collector 4.0 e superior
- X’Pert PRO com X’Pert Data Collector 1.3 ou 2.0 e superior
- X’Pert³ com a versão mais recente do Data Collector 4.3 e superior
Configuração recomendada do sistema
Projetado para e executado no Windows 8,1 (64 bits) e Windows 10 (64 bits) atual Branch para sistemas operacionais empresariais.
Uma configuração de PC que corresponda aos (mínimos) requisitos de hardware para o sistema operacional Windows desejado será suficiente.
Versão atual | 3.0 |
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