波長分散式光譜技術 WDXRF 及 Malvern Panalytical WDXRF 光譜儀介紹
X 光螢光 (XRF) 光譜技術是一套非破壞性分析技術，用以獲取不同類型材質的元素資訊。
它用於多種產業及應用當中，包括：水泥生產、玻璃生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、油品及石化、聚合物及相關產業、製藥、保健產品及環境。
光譜儀系統大致上可區分為兩大類別：波長分散式系統 (WDXRF) 和能量分散式系統 (EDXRF)。此兩者之間的主要差別在於偵測系統的不同。
所有光譜儀的基本要素不外乎輻射源、樣本以及偵測系統。WDXRF 光譜儀會利用輻射源的 X 光管直接照射樣本，並透過波長分散式偵測系統測量來自樣本的螢光。
各別元素所發出的特性輻射可利用分光晶體進行識別，此晶體可依波長或能量將 X 光加以區別。
此分析可透過連續測量 X 光於不同波長的強度 (序列式)，或透過定點式同時測量 X 光於不同波長的所有強度 (同步式) 來進行。
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