晶圓定位分析裝置
選購的附加程式可供探索及定位分析晶體方向或表面失真。
輕鬆用幾個按鍵就能判斷超高速、精確 (最高達到 (1/100)o 的晶體方向。使用從下往上的測量幾何,DDCOM 取得可靠結果的速度可達傳統方法的 100 倍以上,節省了更多的時間。高度多功能性儀器使用氣冷 X 光管與可攜式設計,確保更低的運轉成本及最大的便利性。
此方法只需要一次掃描旋轉即可收集判斷晶體方向所需的所有資料。與旋轉軸相關的測量可提高處理量,並在幾秒內提供精確結果。
使用最高可達 1/100o 的高精確度保持對切割、磨削與研磨製程的控制。DDCOM 可提供單一晶體的完整晶格方向。它還能透過預先程式設定的晶體參數判斷各種結構的任意未知方向。方位角設定功能與晶體方向的標記相結合,有助於強化工作流程使其達到更高效率。
輕巧設計的 DDCOM 可讓系統融入任何設備。軟體既強大又具有直覺性,可方便各種使用者輕鬆操作。
對於需要分析的各種研究與生產環境樣品類型,DDCOM 都提供完整的配備。由於低耗能及使用氣冷 X 光管而不需要水冷,DDCOM 的作業成本極低。
儀器可以測量各種不同結構的不同材料,為任何實驗室提供靈活性。可測量材料的一些範例包括:
技術規格 | |
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X 光源 | 30 W 氣冷 X 光管,銅陽極 |
偵測器 | 兩個閃爍計數器 |
樣品載台 | 精確轉台,設定精確度 0.01°,定義樣品定位與標記的工具 |
實體規格 | |
尺寸 | 600 mm × 600 mm × 850 mm |
重量 | 80 kg |
電源供應需求 | 100-230 V,500 W,單相 |
室內溫度 | ≤ 30° C |
配置選項 | |
晶圓定位分析裝置 (最大直徑 225 mm) | |
從晶圓盒自動裝載的裝置 | |
可測量材料的範例 | |
立方晶系 / 任意未知方向:矽、鍺、砷化鎵、磷化鎵、砷化鋁、磷化鋁、磷化銦、氯化鈉、氯化銀、氟化鈣 | |
立方晶系 / 特殊方向:銀、金、鎳、鉑、銻化鎵、砷化銦、銻化銦、硫酸銨鋁、碲化鋅、碲化鎘、碳化矽 3C、磷酸鹽緩衝生理鹽水、碲化鉛、碲化亞錫、氧化鎂、氟化鋰、偏鋁酸鎂、鈦酸鍶、鈦酸鑭 | |
四方晶系:氟化鎂、二氧化鈦、鋁酸鍶鑭4 | |
六方晶系 / 三方晶系:碳化矽 2H、4H、6H、15R、氮化鎵、氧化鋅、鈮酸鋰、二氧化矽 (石英)、氧化鋁 (藍寶石)、磷酸鎵、矽酸鎵鑭 | |
正交晶系:矽酸鎂、鎵酸釹 | |
更多材料可依客戶要求提供 |