在研究和生产中的应用
理解织构是至关重要的。 例如，织构是金属（如钢和铝）生产中的关键参数，以便控制例如机械强度（例如在工具插件中）和成形性的性能。
在矿物学和地质科学中，通过测量岩石的织构来研究地球的变形历史。 分析取向分布有助于理解工件的形成过程。
通过调节薄膜的生长条件，可以优化所需的性能，例如用于硬盘材料或超导导线。
衍射图中的峰值表示特定取向的某个 (hkl) 反射的强度。
通过倾斜和旋转安装在衍射仪上的样品，可以记录定向球体上的反射强度分布——极图。
已测量一组独立晶体取向的极图时，可以计算微晶的取向分布函数 (ODF)。
滿足您各種分析需求的多功能 X 光繞射儀
马尔文帕纳科为 X 射线织构测量提供了一系列解决方案。
配备 Eulerian 支架和 Empyrean 系统是材料科学家用来测量各种形状和尺寸样品的极图的理想 X 射线衍射系统。 借助织构软件包，可执行评估测量、取向分布函数的可视化和计算的后续分析。
Empyrean智慧型 X 光繞射儀 |
X'Pert³ MRD新一代高分辨X射线衍射仪 |
X'Pert³ MRD XL能滿足研發與品管的自動化 XRD 系統 |
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| 量測類型 | |||
| 紋理分析 | |||
| 技術類型 | |||
| X光繞射(XRD) | |||
