環境控制樣品載台

材料的巨觀特性通常與其結構特性直接相關 (例如，結晶對稱性、晶粒大小、原子空缺、奈米顆粒或奈米孔隙的大小和形狀等等)。溫度、氣壓、氣體以及外加壓力都有機會觸發結構相變、化學反應，以及再結晶等材料變化。

要正確精準分析這些變化的原位特性，X 光繞射 (XRD) 與 X 光散射技術是您的首選，有時它也是您的唯一的選擇。無論是要最佳化產品製程，優化樣品合成步驟，或從事先進材料研發及製造，原位 X 光分析都是您最佳且全方位的量測研究工具。

下載功能比較以獲取環境控制套件及其相關應用之概述。