HTK 16N – high-temperature chamber
反射幾何粉末 XRD,可快速加熱至 1600 ºC。
原位 X 光分析 (in situ XRD) 一般又稱為可控環境同步分析,為學術界與工業環境中先進材料研究的主要應用之一。
材料的巨觀特性通常與其結構特性直接相關 (例如,結晶對稱性、晶粒大小、原子空缺、奈米顆粒或奈米孔隙的大小和形狀等等)。溫度、氣壓、氣體以及外加壓力都有機會觸發結構相變、化學反應,以及再結晶等材料變化。
要正確精準分析這些變化的原位特性,X 光繞射 (XRD) 與 X 光散射技術是您的首選,有時它也是您的唯一的選擇。無論是要最佳化產品製程,優化樣品合成步驟,或從事先進材料研發及製造,原位 X 光分析都是您最佳且全方位的量測研究工具。
下載功能比較以獲取環境控制套件及其相關應用之概述。