先进的技术
马尔文帕纳科一直处于混合探测器技术前沿。
我们是第一家推出具备 0D 与 1D 功能硅条探测器的公司，还将板载灵活性扩展至 0D-1D-2D-3D。 混合探测器的像素尺寸小、零背景、动态范围高，为 XRD 应用带来革命性的变革。 无需再尽量提高强度或增大 XRD 2D 探测器尺寸。 通过光学选项与运行半径，您可优化配置以完全达到符合您要求的状态。
我们以此来应对现代材料研究中所面临的挑战，其中 XRD 的寿命要远远长于任何研究项目的期限。
我们将 Pixirad 探测器作为 Empyrean X 射线衍射 (XRD) 仪器的顶级选件进行销售，可用于各种材料分析应用。
混合探测器技术呈现动态和快速的发展趋势。 我们的企业将始终走在技术前沿并抓住出现的新机遇。
通过内部开发探测器，可以确保探测器与 XRD 衍射仪平台完全兼容，且设计符合用途。
借助我们的 Data Collector 仪器控制软件，可以轻松、直观地切换 0D、1D、2D 和 3D 应用的探测器模式。 您可以实时访问测量结果，并在收集数据时监控扫描和 2D 帧。
根据您的分析要求为您准备数据文件格式，保证与我们的分析软件兼容。 请阅读我们的 Data Collector 小册子，了解有关数据收集的更多信息。
在 0D、1D 和 2D 扫描模式下，探测器的 2θ 角范围可扩展到衍射仪的整个范围，无需拼接静态图像。 实际上，探测器变为圆柱形位置敏感型探测器 (PSD)，其用途广泛，可适应不同的测角仪半径。 在静态 1D 和 2D 成像模式下，由于我们选择了半径缩减臂，因此可以最大限度地扩大单张图像的范围，以适应实验要求。
对于计算机断层扫描 (CT) 等 3D 测量，专用套件在紧邻探测器的位置提供样品架，可以最大限度地扩大测量范围，同时充分利用 GaliPIX3D 和 PIXcel3D 探测器单个像素的点扩散函数和小像素尺寸提供的自然分辨率。
为了在使用三轴分析晶体测量倒易空间图和摇摆曲线时实现最高分辨率，在 0D 模式下使用探测器，并且通常可在所有平台上实现 0.001o 的 2θ 角分辨率。
进行扫描实验时，由于我们的模块化 PreFIX 系统支持可变入射光路光学器件和衍射光束单色器，因此有各种增强的角分辨率可供选择。 进行静态和扫描测量时，探测器的小像素尺寸可提供市场上最高的空间分辨率，通过与各种衍射仪半径（最大 420 毫米）相结合，您定会找到符合自己要求的试验角分辨率。
我们自己内部的试管制造部门与探测器生产应用的开发部门携手合作，提供与您的分析目标相匹配的选项。 借助用于硬辐射的新型 GaliPIX3D 探测器，我们致力于扩大可在 Empyrean 多用途旗舰衍射仪上执行的高能量 XRD 实验范围。
PIXcel3D 和 PIXcel1D 探测器经过优化，可覆盖从 Cu 到 Cr 的所有辐射应用。 新型 1Der 探测器通过任何辐射波长覆盖 0D 和 1D 应用。 我们的探测器与一系列试管和光学组件相结合，提供多种策略来去除不必要的荧光。 特别是，借助 1D 探测器及其可编程能量窗口，连同 Empyrean 独特的入射光束光学器件，可以排除最大范围的荧光元素，而无需使用衍射光束单色器。
