XRD2DScan

產品特色

2D 繞射和散射資料分析

2D 繞射和散射資料中包含的資訊量相當驚人。為此 XRD2DScan 提供了一個全方位且易於使用的工具庫來擷取和分析這些資訊。

除了偵測晶相 (礦物) 和非晶相 (聚合物) 外，您還可以研究它們的微觀結構特性 (晶粒大小、優選方位、結晶度、有序化程度等)、計算織構樣品的極圖，並使用一組 2D 圖案映射峰強度、2Theta 位置和峰值寬度來分析樣品不均質性。映射功能也是一種非常實用的工具，便於表示和審閱孔槽盤資料集。

2D 資料處理與修正

除了 2D 資料分析工具外，XRD2DScan 還提供數種實用資料處理和修正選項，包括平場修正、背景修正、直射光束或強力反射 (例如來自基材) 的遮罩。您也可以旋轉和裁切 2D 影像，並藉由套用資料分箱、平滑化等功能來提升 2D 影像品質。您可以合併多個檔案來提高峰值雜訊比 (peak-to-noise ratio)，或取得多檔案集的總結性表示。產生的 2D 映像可以匯出為 XRDML、ASC、PSF 或 BMP 檔案。

從 2D 資料產生 1D 掃描

XRD2DScan 可視覺化各種 2D 資料類型 (2D XRD、極圖、地圖，包括倒易空間圖譜等)，並且可以讀取各種檔案格式 (XRDML、PSF、ASC、TIF 等)。您也可以使用第三方繞射儀測量的 2D 檔案。XRD2DScan 也允許您擷取各種類型的 1D 掃描：2theta 掃描 (赤道)、伽瑪掃描 (軸向)、線性掃描 (任何方向)、Psi 掃描 (極圖強度以指定方位角旋轉角下樣品傾斜角的函數形式呈現)、Phi 掃描 (極圖強度以指定樣品傾斜角的方位角旋轉角的函數形式呈現)。此軟體也能針對一組 2D 檔案繪製 Z 軸掃描 (檔案編號函數形式的積分扇形區強度)。

1D 掃描結果可以從整個 2D 影像或影像的一部分 (扇形區) 中擷取。XRD2DScan 支援矩形和 2D 角度扇形區的定義。然後可以從所選扇形區中記錄的強度得到 2theta 掃描結果並將其匯出。此方法對於強型織構或大型晶粒的樣品非常實用。

用於處理 1D 掃描的工具庫，包括背景修正、峰值尋找和峰值擬合。若要使用其他程式 (例如 HighScore、HighScore Plus 和 EasySAXS) 進一步分析，則可以將 1D 掃描結果匯出為 XRDML、ASC、DAT 或 2Dint 檔案。

其他實用工具

XRD2DScan 也提供數種便利的工具，例如樣品偵測器距離校準、確定圖案中心的多個選項、使用 X 光管的線聚焦測量之 2D 資料的正確積分、指定所需儀器設定的選項、模擬極圖涵蓋範圍的選項簡化織構實驗設計。

規格

当前版本	8.0