X 射线衍射软件

凭借这些软件模块，可以让您的多用途 Empyrean、X’Pert³ Powder 或 X’Pert³ MRD 释放出全部潜能。

Data Collector 是 Empyrean、X’Pert³ MRD (XL) 和 X’Pert³ Powder 的中央数据采集软件工具箱。 XRD2DScan 可以轻松地将二维数据集转换为一维迹线，以进行进一步分析。

控制用于粉末衍射测量的 CubiX³ 或 X’Pert Powder，提取基于校准线的定量分析结果。

Industry 适用于具有按钮界面及广泛的 LIMS 和自动化功能的工业环境。 可选的 Walk-up Interface 可以充分支持多用户环境。 Quantify 是搭载了 10 个预编程定量分析模块的简化版本。

我们的 HighScore 系列粉末衍射软件旨在从您的疏松和压制粉末及其他多晶样品中提取所有物相信息。

详细了解搜索-匹配软件 HighScore，该软件可为 CanDI-X 等各种搜索-匹配数据库提供广泛的支持。 HighScore Plus 选件在所有 HighScore 功能的基础上，提供了用于晶体学、无限聚类和 Rietveld 分析的其他常规程序。 RoboRiet 为工业环境提供“仅执行”级别的 Rietveld 定量分析和全谱拟合。

凭借我们的薄膜软件模块，您可以获取关于层的厚度、成分、择优取向、外延质量和残余应力的详细信息。

多功能 AMASS（高级材料分析和模拟软件）套件可以轻松、快速地量化这些基本的薄层参数。 

对于多晶层和叠层，可以使用我们的 HighScore 软件确定物相组成及其随深度的变化，并使用 Stress Plus 软件确定残余应力。

用于纳米颗粒和纳米结构分析的 EasySAXS 数据分析软件。 它可提供纳米级结构和尺寸、纳米粒子形状及表面积方面的信息。该软件还支持分析超小角度 X 射线散射 (USAXS) 数据。

我们的 Texture 和 Stress 软件模块可以揭示您的加工组件（比如轧制过的和压制过的金属）中存在的择优取向和残留应力。

Stress 因其广泛而直观的功能而受到称赞。 可选模块 Stress Plus 在 Stress 套件的基础上增添了薄膜残余应力分析功能。

Texture 提供广泛的功能来分析极图、取向分布函数 (ODF) 和反极图。