2830 ZT 预安装手册
버전 번호: 4
2830 ZT
2830 ZT 파장 분산형 X선 형광(WDXRF) 웨이퍼 분석기는 필름 두께와 구조 측정을 위한 완벽한 기능을 갖추고 있습니다. 반도체 및 데이터 저장 산업을 위해 특수하게 설계된 2830 ZT 웨이퍼 분석기는 최대 300mm에 이르는 다양한 웨이퍼에 대해 층 구조, 두께, 불순물 수준, 표면 균일성을 측정할 수 있습니다.
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사용자 매뉴얼
2830 ZT Pre-installation manual
버전 번호: 4
2830 ZT User Guide
버전 번호: 2
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이벤트 및 교육
모든 이벤트
Malvern Panalytical Future Days: Focus On Semiconductor
- 제품:
- Crystal orientation range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), X'Pert3 range
- 기술 유형:
- X-ray Fluorescence (XRF), 동적 광산란, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), X-ray Diffraction (XRD)
- 산업:
- 반도체/전자제품
Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- 제품:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, Epsilon range, CNA 시리즈, Zetium
- 기술 유형:
- X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
계약 옵션 지원
서비스
투자 수익 극대화를 위한 솔루션
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
지원팀
평생 서비스
- 전화 및 원격 지원
- 예방적 유지보수 및 점검
- 유연한 고객 관리 계약
- 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
- 지역 및 글로벌 지원
전문 기술
공정에 가치 추가
- 분석 방법론
- 자문 서비스
훈련 및 교육
- 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
- 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정
분석 서비스 및 교정 물질
- 전문가(XRF) 분석 서비스