XRD2DScan

특징

2D 회절 및 산란 데이터 분석

2D 회절 및 산란 데이터에는 방대한 양의 정보가 포함되어 있습니다. XRD2DScan은 이 정보를 추출하고 분석할 수 있는 포괄적이고 사용하기 쉬운 도구 상자를 제공합니다.

결정질(광물) 및 비정질(고분자) 상의 검출 외에도 미세 구조 특성(입자 크기, 우선 방향, 결정성, 순차 정도 등)을 연구할 수 있으며, 2D 패턴 세트를 사용하여 피크 강도, 2세타 위치 및 피크 너비를 매핑하여 질감이 있는 샘플의 극점도를 계산하고 샘플 불균일성을 분석할 수 있습니다. 매핑 기능은 또한 웰 플레이트 데이터 세트를 편리하게 표시하고 검토하는 데 매우 유용한 도구입니다.

2D 데이터 처리 및 보정

2D 데이터 분석 도구 외에도 XRD2DScan은 플랫 필드 보정, 배경 보정, 직접 빔 마스킹 또는 강한 반사(예: 기판)를 포함한 데이터 처리 및 보정을 위한 몇 가지 유용한 옵션을 제공합니다. 또한 2D 이미지를 회전 및 자르고, 데이터 비닝, 평활화 등을 적용하여 2D 이미지의 품질을 향상할 수 있습니다. 여러 파일을 병합하여 피크 대 노이즈 비율을 개선하거나 여러 파일 세트의 총계를 표시할 수 있습니다. 결과로 생성되는 2D 이미지는 XRDML, ASC, PSF 또는 BMP 파일로 내보낼 수 있습니다.

2D 데이터에서 1D 스캔 생성

XRD2DScan은 다양한 2D 데이터 유형(2D XRD, 극점도, 지도(역격자 공간 지도 포함) 등)을 시각화할 수 있으며 다양한 파일 형식(XRDML, PSF, ASC, TIF 등)을 읽을 수 있습니다. 또한 타사 회절분석기에서 측정된 2D 파일로 작업할 수도 있습니다. XRD2DScan에서는 다양한 유형의 1D 스캔을 추출할 수도 있습니다. 2theta 스캔(적도), 감마 스캔(축), 라인 스캔(모든 방향으로), Psi 스캔(주어진 방위각 회전 각도에서 샘플 기울기 각도의 함수로서 극점도 강도), Phi 스캔(주어진 샘플 기울기 각도에서 방위각 회전 각도의 함수로서 극점도 강도). 2D 파일 세트의 경우 Z 스캔(파일 번호의 함수로 적분 섹터 강도)을 플롯할 수도 있습니다.

1D 스캔은 전체 2D 이미지 또는 이미지의 일부(섹터)에서 추출할 수 있습니다. XRD2DScan은 직사각형 및 각도 2D 섹터의 정의를 지원합니다. 그런 다음 선택한 섹터에 기록된 강도에서 파생된 2theta 스캔을 내보낼 수 있습니다. 이 기능은 텍스처가 강하거나 입자 크기가 큰 샘플에 매우 유용합니다.

1D 스캔 처리용 도구 상자에는 배경 보정, 피크 결과 및 피크 피팅이 포함됩니다. 다른 프로그램(예: HighScore, HighScore Plus 및 EasySAXS)을 사용한 추가 분석을 위해 1D 스캔을 XRDML, ASC, DAT 또는 2Dint 파일로 내보낼 수 있습니다.

기타 유용한 도구

또한 XRD2DScan은 샘플-검출기 거리 보정, 패턴 중심을 결정하는 여러 옵션, X선 튜브의 라인 초점을 사용하여 측정된 2D 데이터의 올바른 통합, 필요한 기기 설정을 지정하는 옵션, 질감 실험 설계를 단순화하는 극점도 적용 범위를 시뮬레이션하는 옵션 등 여러 가지 편리한 도구를 제공합니다.

사양

현재 버전	8.0