안녕하세요,
말번 파날리티칼 입니다.
진행 중인 프로젝트의 종류와 관계 없이 분석이 필요한 샘플의 상 정보를 빠르게 획득하는 것은 성공적인 연구의 핵심 요소가 될 수 있습니다. Aeris 를 사용하여 X선 회절 데이터를 수집한 후에 HighScore 소프트웨어를 이용하여 다양한 결정학적 정보를 획득할 수 있습니다.
또한, 이번에 업그레이드 된 Aeris로는 Reflection, Transmission 그리고, Grazing incidence X-ray diffraction(GIXRD)을 포함한 측정 구성을 갖추면 모든 유형의 다결정 물질에 대한 최상의 데이터를 얻으실 수 있습니다.
이번 Webinar에서는 새로 업그레이드 된 기능들에 대해 소개하며, 최신 분석 데이터를 사례를 확하실 수 있습니다. 많은 관심 부탁 드리겠습니다.
감사합니다.
발표자
Daniel Lee (이충기) Sr. Application Specialist
FAQ
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