高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線（EDXRF）装置です。

元素分析法と蛍光X線（XRF）分析法
物質、材料中に含まれる元素を分析することは、その材料の最も基本的な要素を理解することにつながります。その重要性は材料、食品、医薬品、鉱業、環境分析など、各分野において多岐にわたります。元素分析に用いる機器分析法は、高周波プラズマ（ICP）を利用した発光分析法、質量分析法や、原子吸光法（AAS）、蛍光X線分析法（XRF）、燃焼型元素分析（Combustion EA）など、多数あります。なかでも、蛍光X線（XRF）分析法は、最も簡便で、そして低ランニングコストの分析法として知られています。

サポート依頼

サポートされている製品

卓上蛍光X線分析装置 イプシロン1

たった40×40cmのスペースで元素分析 小型・パワフルな卓上XRF

測定
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
Elemental analysis
Elemental range
Na-Am
Resolution (Mn-Ka)
135eV
LLD
1 ppm - 100%
Sample throughput
40per 8h day to 80per 8h day
技術
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
卓上蛍光X線分析装置 イプシロン1

Epsilon 4

高速で正確なアットラインの元素分析

測定
Elemental analysis
Elemental quantification
Contaminant detection and analysis
Elemental range
F-Am
Resolution (Mn-Ka)
135eV
LLD
1 ppm - 100%
Sample throughput
80per 8h day to 160per 8h day
技術
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Epsilon 4

Epsilon Xflow

生産プロセスの現場管理

測定
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental range
Na-Am
Resolution (Mn-Ka)
135eV
LLD
1 ppm - 100%
Sample throughput
on-line
技術
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
X-ray Fluorescence (XRF)
Epsilon Xflow

Epsilon Xline

連続ロール・トゥ・ロール・プロセスのためのインライン制御

測定
Contaminant detection and analysis
Elemental analysis
Elemental quantification
技術
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
X-ray Fluorescence (XRF)
Epsilon Xline