概要
Aero Mは乾燥粉体サンプルの粒径と粒度分布を測定できるように設計されています。 モジュラー設計支援システムにより、様々な用途において堅牢な粒度分布測定が実施できるように構成することが可能で、また日常的な使用におけるメンテナンスが容易です。
- 液体分散媒が不要で、素早く再現性の高い測定が可能です。
- 大量のサンプルを測定できるので、良好なサンプリングを実現できます。
- 測定中にサンプル分散設定のソフトウェア検証が行われるので、測定の再現性が維持されます。
- サンプルトレイや粉体ホッパーを追加で購入することにより、様々な用途向けに構成することが可能です。
- セラミック製のベンチュリ分散ユニットを使用すれば摩耗性サンプルの測定も可能です。
動作
乾式分散ユニットは大量の粉体を測定できるので、多量の材料の粒径と粒度分布を測定するのに乾式分散ユニットを使用するととても便利です。 これは、多分散性の材料のサンプリングに有用です。 また、乾式分散ユニットでは液体分散媒が不要なので測定にかかる費用が安くなりサンプルスループットが増加します。
Aero Mは、圧縮空気を使用し、粒子がベンチュリ内を通過するという方法で乾式サンプルを分散します。 粒子は、真空バキュームにより吸引されマスターサイザー 3000Eの測定セルを通り抜けます。 適用する空気圧とサンプルフィード速度により分散効率を制御できます。
乾式分散のメカニズム
ベンチュリ分散器により凝集体が加速するときに、凝集体がせん断されて乾燥粉体が分散されます。 粒子間衝突および粒子と壁面との衝突も強力な凝集体の分散を助けます。 各分散メカニズムに伴うエネルギーは、ベンチュリ内の空気圧低下度合いを設定することで制御します。 これにより、マスターサイザー3000E光学ユニットを使用して実施する測定前に、一次粒子径まで分散させることができます。
Aero Mのサンプルフィード速度は、振動フィーダーで精密に制御されます。これにより、試料の濃度が測定に最適な状態に保たれます。 これにより、再現性のある迅速な測定が実現します。
仕様
粒子サイズ | 0.1~1000 µm † |
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分散圧力範囲 | 0~4 bar |
圧力設定 | +/- 0.1 bar |
分散圧設定の精度 | +/- 0.03 bar |
フィードレート範囲 | 0~58ms-2(0~100%で表示) |
フィードレート精度 | 2% FS |
試料に接触する部分の材質 | 316ステンレススチール 410 硬化ステンレススチール ホウケイ酸ガラス EPDM PTFE ポリウレタン 炭素充填アセタール アルミニウム ネオプレン |
最大粒子径 | 1000 µm † |
測定間の最短時間 | 60秒未満 † |
寸法(W x D x H) | 180mm x 260mm x 380mm |
重量 | 10.5kg |
電源 | 光学ユニットを介して供給 |
† | 試料によって異なります。 上限サイズが1000 µmであるマスターサイザー3000Eで本ユニットを使用する場合に関係します。 |