更快的XRD數據分析 - HighScore Plus 實用功能介紹

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HighScore Plus 的實際應用和新增功能

有沒有想過數據分析軟體比你自己更知道你需要的是什麼嗎? Malvern Panalytical最新版的HighScore Plus軟體,版本5.1。自其首次發表以來,我們的軟體開發人員已經進行了許多功能上的改良,並含括全世界上各種不同領域所需的XRD數據分析功能,如自動化分析功能、半定量成分分析等,且相容晶體學開放資料庫(COD),可提供您更直觀,且更快速的分析結果。

Malvern Panalytical 的 HighScore Plus XRD 軟體的新功能,可使自動化更加簡單,分析更加準確:

  1. Smart Batch
  2. DDM Method
  3. RoboRiet

発表者

  • 李秉中博士,台灣應用實驗室主管 
    李秉中博士近日以應用專家的身分加入Malvern Panalytical X光分析團隊,李博士擁有工程與系統科學博士學位,主要研究領域為奈米科學,薄膜分析,熱電材料以及低溫物理相關主題.他在X光材料分析領域也擁有多年經驗,包含X光繞射分析以及X光螢光分析.在中研院物理所擔任博士後研究以及X光實驗室主任期間,對於各研究團隊所需X光材料分析多有著墨,材料的型態涵蓋粉末,薄膜,單晶繞射以及Rietveld結構精算分析,而領域則含括量子材料,超導材料,磁性薄膜,奈米生物材料等.

FAQ

誰該參加?

  • 從事材料表徵分析的研究人員,希望擴展在X光繞射上的知識
  • 相關行業包括(但不限於)電池、粉末冶金、水泥、採礦和礦產、環境監測、製藥等領域的研究
  • 負責選擇最佳的分析方法的研發或製造的主管們

詳細

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