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X'Pert3 Powder

X'Pert³ Powder est le nouveau diffractomètre de PANalytical basé sur une plateforme entièrement renouvelée. Une nouvelle électronique embarquée de contrôle, une conformité avec les dernières normes les plus strictes en terme de sécurité de rayons X et mécanique, des progrès dans l'éco-convivialité et la fiabilité, X'Pert³ est paré pour l'avenir. Le système offre une solution abordable pour l'identification et la quantification de phase de haute qualité, les cadences élevées, les analyses de contraintes résiduelles, l'incidence rasante, la réflectométrie, la diffusion aux petits angles, les analyses de la fonction de distribution de paires et la diffraction non ambiante.

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Accessoires

Detectors

X'Celerator

The world’s first 1D silicon strip detector for laboratory X-rays

As the world’s first silicon-based position-sensitive 1D detector for XRD, the X’Celerator is the result of the pioneering development from Malvern Panalytical. With the R&D 100 Award-winning X’Celerator detector you can perform XRD measurements up to 100 times faster than with a traditional point detector, without compromising data quality. With no need for cooling water, liquid nitrogen flow, counting gas or time-consuming calibrations, it is a cost-effective solution.

The X’Celerator is designed exclusively for Malvern Panalytical’s diffractometers for applications in research and industry.

PIXcel1D

Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié

Avec le détecteur PIXcel1D , vous disposez d'un détecteur de bandes dédié pour les applications 0D et 1D. Vous pouvez effectuer des mesures 255 fois plus rapides qu'un détecteur ponctuel, sans aucun compromis sur la qualité des données. Cette solution est par ailleurs économique, car elle ne nécessite ni eau de refroidissement, ni azote liquide, ni gaz de comptage, ni d'étalonnage fastidieux.

Avec une résolution et une plage dynamique inégalées, le PIXcel1D peut être utilisé avec tous nos diffractomètres.

Non-Ambient Chambers

BTS 150/500 - Benchtop Heating Stages

Accessoire économique pour XRD non ambiante

Les éléments de chauffage de paillasse Anton Paar BTS 150 et BTS 500 sont des solutions compactes et économiques pour les expériences de diffraction des rayons X non ambiantes de base en géométrie de réflexion. Le BTS 150 est équipé d'un élément chauffant Peltier permettant une plage de températures de – 10 ºC à 150 ºC. Le réchauffeur à résistance du BTS 500 permet de chauffer un échantillon à partir de la température ambiante jusqu'à 500 ºC. Les deux plateformes de chauffage peuvent être utilisées avec une atmosphère d'air, de vide ou de gaz inerte. Un thermocouple est placé près de l'échantillon pour une mesure et un contrôle précis de la température. Un couteau de faisceau en option peut être utilisé pour minimiser le bruit de fond à angle bas.

Chimera – chambre de refroidissement et de chauffage pour la diffraction de poudre

Cryostat HE à cycle fermé pour la XRD à température basse à moyenne-élevée

La chambre Chimera est un nouvel accessoire non-ambiant d'Oxford Cryosystems et consiste principalement en une version plus petite du cryostat PheniX. Elle intègre un refroidisseur Gifford McMahon à un élément (par opposition au refroidisseur à deux éléments du PheniX) pour permettre des mesures à des températures allant de -203 ºC (70 K) à 252 ºC (525 K) sans azote liquide. La chimère offre une excellente stabilité de température de 0,1 K et des taux de rampe variables (1 – 360 K/heure). Le refroidissement de la température ambiante à 70 K ne prend que 35 minutes. Grâce à sa conception, il n'y a pratiquement aucune consommation d'hélium. La préparation et l'échange des échantillons sont rapides et faciles.

CHC plus+ – cryochambre et chambre d'humidité

Solution unique pour la XRD à température et humidité contrôlées

La chambre Anton Paar CHC plus+ est conçue pour les études in situ de diffraction des rayons X sur poudre en géométrie de réflexion et permet d'effectuer des expériences à haute et basse température et des expériences avec des conditions de température et d'humidité contrôlées. La plage de températures accessible avec cette chambre est de – 180 ºC à 400 ºC. Si un refroidissement inférieur à -10 ºC n'est pas nécessaire, le refroidissement à air comprimé peut être utilisé à la place du refroidissement à l'azote liquide. L'humidité relative peut être modifiée de 5 à 95 % HR à des températures de 10 à 80 ºC. En option, un couteau de faisceau peut être placé au-dessus de l'échantillon pour un bruit de fond à faible angle amélioré. 

Cryostream Plus compact

Dispositif unique pour les expériences in situ en géométrie capillaire

Cryostream Plus Compact d'Oxford Cryosystems permet des expériences XRD dans la géométrie de transmission à des températures comprises entre 227 °C (500 K) et -193 °C (80 K).

DCS 500 – élément de refroidissement

Accessoire compact unique pour l'analyse de couches minces à basse température

Anton Paar DCS 500 est un dispositif haute température compact unique qui permet d'incliner et de faire pivoter l'échantillon par rapport au faisceau de rayons X pour les applications avancées de couche mince et les mesures de contrainte résiduelle et de texture. La conception optimisée de la plaque de chauffage/refroidissement garantit une uniformité à haute température le long de l'échantillon et une mesure et un contrôle précis de la température dans toute la plage de températures, de -180 à 500 ºC. La rotation complète de l'équipement n'est possible qu'au-dessus de 0 ºC, car en dessous de cette température, les conduites qui fournissent de l'azote liquide à l'élément de refroidissement gèlent et limitent donc la rotation de l'échantillon. Le dôme demi-cercle transparent à rayons X au-dessus de l'échantillon permet un champ de vision étendu.

DHS 1100 – élément de chauffage

Étudier les couches minces et les solides à des températures élevées

Anton Paar DHS 1100 est un dispositif haute température compact unique qui permet d'incliner et de faire pivoter l'échantillon par rapport au faisceau de rayons X pour les applications à couche mince avancées. La conception optimisée de l'élément chauffant garantit une uniformité de température élevée et une mesure et un contrôle précis de la température. Le dôme demi-cercle transparent à rayons X offre un grand champ de vision lors de l'utilisation de détecteurs 2D. Pour faciliter la manipulation des échantillons sensibles à l'air, un anneau d'écoulement de gaz permettant un flux de gaz inerte est placé autour du port d'insertion d'échantillon.

HPC 900 - high pressure chamber

In situ XRD at high pressure and high temperature conditions

Anton Paar HPC 900 is a furnace-type heater optimized for in situ powder X-ray diffraction measurements (reflection geometry, Mo or Ag radiation) on powder and solid samples with gas atmospheres in the pressure range from 1 to 100 bars. It was designed to work with hydrogen, but other gases can also be used (please see chamber leaflet for details). A double-wall chamber design consisting of an inner pressure core and an outer safety shell is flushed with N2 gas to prevent accumulation of dangerous gas mixtures. Due to the environmental heating to 900 ºC high temperature uniformity is guaranteed over the entire sample volume. The thermocouple is placed right underneath the sample for accurate temperature measurement and control. For an easy handling of air-sensitive samples a gas flow ring enabling a flow of inert gas is placed around the sample insert port.

HTK 1200N – chauffage du four

Chambre polyvalente pour four haute température

Anton Paar HTK 1200N est conçu pour la diffraction des rayons X sur poudre dans les géométries de réflexion et de transmission avec chauffage environnemental de l'échantillon jusqu'à 1200 ºC dans l'air, l'atmosphère inerte ou le vide. Grâce à la géométrie de l'élément chauffant, il n'y a pratiquement aucune restriction sur l'épaisseur de l'échantillon. Par conséquent, avec les poudres organiques ou inorganiques, le comportement à haute température des échantillons en vrac peut également être étudié avec cette chambre. Le thermocouple est placé juste en dessous de l'échantillon pour une mesure et un contrôle précis de la température. L'oscillation facultative de la table d'échantillon permet d'améliorer les statistiques de particules pour l'analyse XRD sur poudre dans la géométrie de réflexion. Un accessoire de capillaire tournant en option permet de mesurer la géométrie de transmission des matériaux ou des échantillons très sensibles à l'air avec une forte tendance à l'orientation préférée. La préparation et l'échange des échantillons sont très simples et faciles.

HTK 16N – chambre haute température

Pour chauffage rapide à 1 600 ºC

Anton Paar HTK 16N est une chambre de chauffage à bande conçue pour les études in situ de diffraction des rayons X sur poudre en géométrie de réflexion à des températures allant jusqu'à 1 600 ºC dans le vide, l'air ou l'atmosphère inerte. Selon les exigences expérimentales, différents types de bandes chauffantes (Pt, Ta, graphite ; autres sur demande) peuvent être montés à l'intérieur de la chambre. En raison du chauffage direct de l'échantillon, le taux de chauffe avec une bande Pt ou Ta peut atteindre 400 ºC/min. La conception de la chambre est optimisée pour un gradient de température minimal le long de la bande chauffante et pour une stabilité de position maximale de l'échantillon. Deux thermocouples sont disponibles pour une mesure et un contrôle précis de la température. En option, un couteau de faisceau peut être placé au-dessus de l'échantillon pour améliorer le bruit de fond à de faibles angles. Le HTK 16N est adapté aux études XRD de matériaux organiques et inorganiques.

HTK 2000N – chambre haute température

Pour l'analyse XRD à des températures extrêmement élevées

Anton Paar HTK 2000N est une chambre de chauffage à bande conçue pour la diffraction des rayons X sur poudre dans la géométrie de réflexion à des températures extrêmement élevées jusqu'à 2 300 ºC (bande de tungstène) dans le vide, l'air ou l'atmosphère inerte. Selon les exigences expérimentales, différents types de bandes chauffantes (Pt, W, Ta ; autres sur demande) peuvent être montés à l'intérieur de la chambre. En raison du chauffage direct de l'échantillon, le taux de chauffe peut atteindre 500 ºC/min (avec bande W). La conception de la chambre est optimisée pour un gradient de température minimal le long de la bande chauffante et pour une stabilité de position maximale de l'échantillon.

MHC-trans – multi-sample humidity chamber

Optimized solution for XRD at controlled temperature and humidity

The Anton Paar MHC-trans chamber is a dedicated chamber for in situ powder X-ray diffraction measurements at controlled temperature and humidity conditions. The chamber is designed for transmission geometry (foils) and has a built-in sample changer with 8 sample positions for high throughput applications. It has an environmental heater enabling temperatures from -10 to 150 ºC in dry atmosphere (dry air or nitrogen gas). The relative humidity can be changed from 5 to 95 %rH at temperatures from 10 to 80 ºC. The thermocouple and humidity sensor are in the direct vicinity of the sample for accurate measurement and control of both temperature and relative humidity. The chamber is equipped with a beam stop for an improved low-angle background.

PheniX – cryostat basse température

Dispositif unique pour les expériences à des températures extrêmement basses

Oxford Cryosystems PheniX est une solution unique pour la diffraction des rayons X à des températures extrêmement basses Il s'agit d'un cryostat à l'hélium à cycle fermé compact permettant une plage de températures de 25 °C (298 K) à - 261 °C (12 K) avec une uniformité de température sur l'échantillon de 0,1 degré. Le refroidissement de la température ambiante à 20 K ne prend que 40 minutes et 20 minutes supplémentaires pour atteindre une température de 12 K. Grâce à sa conception, il n'y a pratiquement aucune consommation d'hélium. La préparation et l'échange des échantillons sont rapides et faciles.

TTK 600 – chambre basse température

Chambre polyvalente pour travailler à des températures basses à moyennes-élevées

La chambre Anton Paar TTK 600 est le successeur de la chambre basse température TTK 450. Cette nouvelle chambre basse température TTK 600 est équipée d'un mécanisme de chauffage/refroidissement amélioré, qui étend la plage de températures de -190 ºC à +600 ºC. La chambre TTK 600 permet des mesures XRD in situ sur poudre en réflexion et en transmission et peut être utilisée avec l'air, l'atmosphère inerte ou le vide. Si un refroidissement inférieur à -10 ºC n'est pas nécessaire, le refroidissement à air comprimé peut être utilisé à la place du refroidissement à l'azote liquide. Le thermocouple est placé juste en dessous de l'échantillon pour une mesure et un contrôle précis de la température. Un couteau de faisceau ou un bloqueur de faisceau en option peuvent être placés à l'intérieur de la chambre pour améliorer le bruit de fond à faible angle lors de la réflexion ou de la transmission, respectivement.

XRK 900 – chambre de réacteur

Solution unique pour la XRD in situ à différentes atmosphères gazeuses

Anton Paar XRK 900 est un chauffage de type four optimisé pour les mesures in situ de diffraction des rayons X sur poudre (géométrie de réflexion) à diverses atmosphères gazeuses dans la plage de pression de 1 mbar à 10 bars. En raison du chauffage de l'environnement à 900 ºC, une uniformité de température élevée est garantie sur l'ensemble du volume d'échantillon. Le thermocouple est placé juste en dessous de l'échantillon pour une mesure et un contrôle précis de la température. L'oscillation facultative de la table d'échantillon permet d'améliorer les statistiques de particules pour l'analyse XRD sur poudre dans la géométrie de réflexion. Les porte-échantillons permettant le passage du gaz dans l'échantillon garantissent une surface de réaction maximale. Un porte-échantillon spécial avec un passage électrique supplémentaire pour la recherche sur les batteries à des températures allant jusqu'à 260 ºC est disponible.

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