Stress Plus

Fonctionnalités

Analyse des revêtements avec sensibilité accrue

Une technique couramment utilisée dans l'analyse par diffraction des rayons X de revêtements polycristallins orientés aléatoirement est d'augmenter la sensibilité du signal XRD en appliquant un angle rasant d'incidence des rayons X. Dans une telle géométrie, l'analyse classique des contraintes résiduelles n'est plus possible. Pour surmonter cette limite, Malvern Panalytical et son partenaire de collaboration, le Max Planck Institute Stuttgart (Allemagne), ont développé des modifications novatrices à l'analyse de contrainte classique sin²ψ. Les données de plusieurs pics {hkl} sont combinées et un algorithme de conversion calcule les inclinaisons ψ réelles pour toutes les combinaisons possibles d'angles d'instrument.

Analyse des revêtements avec une orientation fortement privilégiée

Une orientation privilégiée est parfois appliquée délibérément aux revêtements afin d'améliorer leurs propriétés, par exemple pour maximiser leur résistance à l'usure. Comme pour les revêtements avec une sensibilité accrue, l'analyse de contrainte sin²ψ traditionnelle n'est pas possible sur les matériaux avec une orientation privilégiée. À la place, les données sont collectées en appliquant une inclinaison chi aux acquisitions symétriques normales afin de mesurer les plans de réseau, qui ne sont pas parallèles à la surface de l'échantillon. Stress Plus permet de combiner les données de différents pics {hkl}, chacun avec sa propre inclinaison, dans un tracé sin²ψ modifié. Stress Plus prend automatiquement en compte les décalages de pic dus à la contrainte, en attribuant des indices Miller corrects et en identifiant les pics de revêtement et de substrat ou de sous-couche.

Facile à configurer et à maîtriser 

Les mesures de contrainte résiduelle sur les revêtements sont entièrement prises en charge dans Data Collector et dans Stress Plus. Data Collector contient des programmes de mesure spéciaux pour configurer la stratégie de collecte des données. Stress Plus extrait tous les paramètres du fichier .XRDML et génère les valeurs de contrainte résiduelle de la même manière intuitive que le programme Stress.

Liberté expérimentale

Stress Plus calcule instantanément tous les résultats intermédiaires et les données de contrainte finales. L'influence de tous les paramètres est directement prise en compte dans le résultat final. La possibilité d'analyser des ensembles de données combinés à partir de plusieurs fichiers de données offre une liberté expérimentale complète. Des données supplémentaires peuvent être ajoutées à tout moment. Les valeurs par défaut configurables par l'utilisateur et le recalcul instantané des résultats en fonction d'un changement des paramètres d'entrée font de Stress Plus l'outil idéal pour les applications d'analyse de routine et de recherche.

Documentation utilisateur

Notre guide de démarrage rapide fournit toutes les informations dont vous avez besoin pour être opérationnel avec Stress Plus.

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Spécifications

Version actuelle	3,0