SDCOM

Orientación ultrarrápida en la superficie superior para la medición del cristal en un paquete compacto

El SDCOM es capaz de medir cualquier monocristal con un diámetro entre 2 y 300 mm, y utiliza el método de escaneo azimutal para determinar con precisión la orientación completa de la red de monocristales en una sola rotación de medición, lo que tarda solo unos segundos. 

Adecuado para la investigación, la producción y el control de calidad, el SDCOM es versátil y accesible, se adapta fácilmente a una amplia variedad de pasos de proceso de obleas y lingotes, a la vez que tiene costos operativos mínimos debido a que no necesita refrigeración por agua.

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Información general

La medición rápida y precisa de la orientación del cristal nunca ha sido tan accesible: conozca el SDCOM, su XRD compacto fácil de usar. El método de escaneo azimutal libera una medición ultrarrápida, con resultados en menos de diez segundos. 

El SDCOM es la solución ideal para muchas aplicaciones dentro del procesamiento y la investigación de obleas, en las que entrega el nivel de precisión más alto de hasta 0,01o.

Características y beneficios

Rápido y preciso: método de escaneo azimutal

El método de escaneo azimutal requiere solamente una rotación de medición para reunir todos los datos necesarios a fin de determinar por completo la orientación, lo que proporciona resultados en un plazo de 10 segundos sin comprometer la precisión.

La muestra se gira 360o, con la fuente de rayos X y el detector posicionados para lograr un determinado número de reflejos por giro. Estos reflejos permiten la orientación de la red de cristales que se va a medir en relación con el eje de rotación con una alta precisión de hasta 0,01o.

Rápido y preciso: método de escaneo azimutal

Compacto y versátil

Gracias a su forma ligera y compacta, el SDCOM es fácilmente integrable en la investigación o los procesos industriales. El software XRD Suite es potente e intuitivo, por lo que es conveniente y fácil de operar para una variedad de usuarios.

La flexibilidad es clave para el SDCOM, que es especialmente clara en la gama de materiales que puede medir. El SDCOM puede medir cristales desde 2 hasta 300 mm de diámetro

Para una mayor flexibilidad, el SDCOM también es compatible con Theta-Scan. Con esto puede cubrir una gama aún mayor de materiales y cortes.

También existen diversos soportes de muestra y accesorios de transferencia que pueden ampliar aún más las posibilidades de las aplicaciones de su SDCOM, lo que garantiza la compatibilidad con su flujo de trabajo. Las etapas manuales y motorizadas de mapeo de obleas también están disponibles.

Algunos ejemplos de materiales medibles incluyen los siguientes (método de escaneo azimutal):
  • Cúbico, orientación desconocida arbitraria: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Cúbico, orientación especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Tetragonal: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Hexagonal y trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (cuarzo), Al2O3 (zafiro), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Ortorrómbico: Mg2SiO4, NdGaO
  • Cualquier otro material cristalino individual
Compacto y versátil

Rentable

El tubo de rayos X del SDCOM se refrigera por aire, lo que elimina la necesidad de un enfriador o un circuito de agua de refrigeración. Gracias a la eficiencia y el pequeño tamaño del SDCOM, su consumo de energía se mantiene al mínimo, al igual que sus costos de funcionamiento. 

Rentable

Aplicaciones clave

Marcado y medición de direcciones en plano
El SDCOM ofrece mediciones de orientación del cristal ultrarrápidas y muy precisas, ideales para una amplia gama de aplicaciones en la producción y el procesamiento de obleas, incluido el marcado y la medición de direcciones en plano. Dado que es ligero y portátil, se puede implementar dondequiera que lo necesite en su proceso. 
Capaz de medir cristales pequeños de hasta 1 mm con alta precisión y una amplia gama de materiales, el SDCOM está bien situado para soportar las necesidades complejas y cambiantes de la industria de los semiconductores.
Control de calidad de producción
El control de procesos rutinario exige velocidad, precisión y repetibilidad, y el SDCOM cuenta con ello. Su velocidad de medición ultrarrápida le dará un impulso a su productividad sin tener un gran impacto en sus costos de funcionamiento, gracias a su formato de escritorio y tubo de rayos X enfriado por aire.
Investigación de materiales
Capaz de medir una gama versátil de tipos de cristales dentro de un laboratorio con poco espacio, el SDCOM es ideal para flujos de trabajo de investigación estándar. Los costos de funcionamiento se mantienen bajos gracias al consumo de energía minimizado y a un tubo de rayos X enfriado por aire sin necesidad de refrigeración por agua. 
El SDCOM también es accesible y fácil de operar con manipulación manual, lo que lo convierte en una solución práctica para laboratorios de investigación con muchos usuarios diferentes.

Especificación

Fuente de rayos X Tubo de rayos X refrigerado por aire de 30 W, ánodo de Cu
Detectores Tecnología de contador de centelleo
Soporte de muestras Plataforma giratoria precisa, ajuste de precisión 0,01 °, soportes de muestra personalizados y accesorios de transferencia
Diámetro de la muestra Desde 2 mm ø hasta 200 mm
Temperatura ambiente ≤30 °C
Requisitos de PC Windows 10 o más reciente. Actualización de NET Framework, 2 puertos Ethernet
Requisitos de alimentación eléctrica De 100 a 230 V, monofásico, 500 W
Dimensiones 600 mm (L) x 600 mm (B) x 840 mm (A)
Peso ca, 100 kg
Certificación Fabricado de acuerdo con las directrices ISO 9001, conforme a CE
Todos los parámetros técnicos están sujetos a cambios basados en I+D

Accesorios

Soportes para muestras

Existen diversos soportes de muestra disponibles para el SDCOM, lo que le permite procesar muestras más pequeñas, más grandes o irregulares con más facilidad. 

Soportes para muestras

Accesorios de transferencia

Integre completamente el SDCOM en su proceso mediante la adición de accesorios de transferencia dedicados, que incluye opciones para sierra de hilo, molienda y más.

Accesorios de transferencia

Soporte

Servicios de apoyo 

  • Asistencia telefónica y remota
  • Mantenimiento preventivo y revisiones
  • Acuerdos flexibles de atención al cliente
  • Certificados de rendimiento
  • Actualizaciones de hardware y software
  • Asistencia local y global

Experiencia

  • Soluciones listas para usar en la metrología de semiconductores elemental y estructural
  • Automatización y consultoría
  • Capacitación y educación
Mediciones de orientación del cristal ultrarápidas simplificadas

Mediciones de orientación del cristal ultrarápidas simplificadas

Difracción de rayos X versátil, precisa y rápida en un cómodo formato compacto. Rentable sin compromiso.

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