Nuestros paquetes de software XRD están diseñados para extraer absolutamente toda la información de su material.
Ofrecemos un software de recopilación de datos intuitivo y personalizado para el uso de control de procesos o investigación, además de módulos de análisis de vanguardia para las diversas aplicaciones de XRD que es posible realizar en nuestros instrumentos.
Software de recopilación de datos para difractómetros de uso múltiple
Con estos módulos de software, puede liberar la funcionalidad completa en las plataformas de uso múltiple Empyrean, X’Pert³ Powder o X’Pert³ MRD.
Data Collector es la caja de herramientas software central de adquisición de datos para Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) y X’Pert³ Powder. XRD2DScan ofrece una conversión sencilla de conjuntos de datos en 2D a trazos en 1D para obtener un análisis más profundo.
XRD2DScan
Software para aplicaciones de control de procesos de difracción de polvo
Controle el CubiX³ o el X’Pert³ Powder para realizar mediciones de difracción de polvo y extraiga resultados cuantitativos basados en líneas de calibración.
Industry está diseñado para entornos industriales con una interfaz con botones y amplias capacidades de automatización y LIMS (Sistema de Gestión de Información de Laboratorio, del inglés Laboratory Information Management System). Con la interfaz Walk-up opcional, los entornos multiusuario cuentan con el soporte adecuado. Quantify es una versión simplificada con 10 módulos de análisis cuantitativo preprogramados.
Industry
Quantify
Módulos de software de difracción de polvo
Nuestra familia de software de difracción de polvo HighScore está diseñada para extraer toda la información de fase de los polvos sueltos y compactos, además de otras muestras policristalinas.
Obtenga más información acerca de HighScore, el software de búsqueda de coincidencias más avanzado del mundo, con su amplio soporte de diversas bases de datos de búsqueda de coincidencias como CanDI-X. La opción HighScore Plus ofrece rutinas adicionales de cristalografía, agrupamiento ilimitado y análisis de Rietveld, además de toda la funcionalidad de HighScore. RoboRiet ofrece la función "solo de ejecución" de ajustes de perfil y cuantificación mediante el método Rietveld para uso en entornos industriales.
HighScore
HighScore Plus
Búsqueda de coincidencias
RoboRiet
Análisis XRD de películas delgadas
Con nuestros módulos de software para películas delgadas, puede obtener información detallada acerca del grosor, la composición, la orientación preferida, la calidad epitaxial y la tensión residual presente en las capas.
Estos parámetros esenciales de capas delgadas se cuantifican de forma rápida y fácil con el nuevo paquete "todo en uno" AMASS (del inglés Advanced Material Analysis and Simulation Software, software de análisis y simulación avanzados de materiales).
Para las capas policristalinas y las pilas de capas, puede determinar la composición de la fase, también como una función de profundidad, con nuestro software HighScore, y determinar las tensiones residuales con nuestro software Stress Plus.
AMASS
Stress Plus
Análisis del tamaño y la forma de las nanopartículas
Software de análisis de datos EasySAXS para análisis de nanopartículas y nanoestructuras. Proporciona información acerca de las estructuras y las dimensiones de nanoescala, las formas de nanopartículas y las áreas de superficie.
El software también admite el análisis de datos de dispersión de rayos X con ángulo ultrarreducido (USAXS, del inglés ultra small-angle X-ray scattering).
EasySAXS 2.2
Análisis de objetos sólidos
Nuestros módulos de software Texture and Stress revelan la orientación preferida y las tensiones residuales que se encuentran presentes en los componentes maquinados, como los metales extruidos y laminados.
Expertos de todo el mundo elogian a Stress por su funcionalidad integral e intuitiva. El módulo opcional Stress Plus agrega el análisis de las tensiones residuales en películas delgadas al paquete Stress.
Texture ofrece una amplia funcionalidad para analizar las figuras de polos, las funciones de distribución de orientación (ODF, del inglés orientation distribution function) y las figuras de polos inversas.