AMASS

Características

Características clave de AMASS

AMASS Basic incluye todas las funciones, excepto la simulación y el ajuste automático.

• Nueva interfaz gráfica de usuario intuitiva.
• Formato de documento orientado a proyectos para almacenar, recuperar y gestionar toda la información de una sesión de trabajo, incluidos los escaneos abiertos, los datos simulados, todos los parámetros establecidos y los parámetros del material utilizado.
• Gráficos para escaneos únicos, mapas de áreas y mapas de obleas.
• Posibilidad de fusionar conjuntos de datos de 1 y 2 ejes.
• Proyección y extracción de escaneos de 2 ejes para generar escaneos de 1 eje para análisis posteriores.
• Búsqueda automática de picos en datos de 1 eje (como curvas oscilantes) y 2 ejes (como mapas de espacios recíprocos).
• Etiquetado automático de picos de sustrato, múltiples capas y franjas.
• Extracciones automáticas de línea horizontal y vertical en posiciones del pico etiquetadas de datos de 2 ejes.
  
• Se admiten materiales de cualquier grupo de espacios.
• Las estructuras de muestra incluyen gradientes, superredes y parámetros vinculados.
• El software extrae la deformación y la relajación, la discordancia y la composición, la orientación y curvatura de los cortes incorrectos del sustrato, la dispersión del mosaico en capas y la longitud de correlación lateral, el espesor y el período de superred de las posiciones de los picos etiquetadas.
• Determinación del espesor a partir de datos de reflectividad especular mediante Fourier y el método directo.
• Se puede crear un mapa de obleas mediante el análisis de cualquier conjunto de tipos de escaneos. Esto incluye el análisis directo de los parámetros de los picos y de las posiciones de los picos, así como el ajuste automático (si la opción está disponible).
• AMASS admite datos en formato XRDML, en formato ASCII simple (*.asc) y en los formatos antiguos de Philips (*.dnn, *.xnn, *.ann y *ynn).
• Informes de resultados personalizables. Admite informes en PDF, RTF, XML y HTML.
• Todos los análisis se pueden automatizar completamente mediante una interfaz de línea de comandos. Cuando se controla mediante el APP (programa de procesamiento automático), es posible la automatización de todo el proceso, desde la medición hasta el informe de resultados.
• Interfaz del Modelo de objetos componentes (COM, Component Object Model) para operar las funciones de AMASS desde aplicaciones como Phyton^TM o Matlab^®.
  
• Elección de dos algoritmos de ajuste: permite a los usuarios adaptar el software para requisitos de ajuste únicos (solo para las opciones).
• Análisis de confianza para cada parámetro de un modelo de muestra determinado. El resultado de este análisis es una medida del rango de fiabilidad del parámetro refinado (solo para las opciones).
• Opción HR:
  • Ajusta las curvas oscilantes simuladas a los datos medidos.
  • Las capas pueden estar parcialmente relajadas con respecto a la capa inferior.
  • Las orientaciones de superficie no polares de los planos a y m de las estructuras de wurtzita son totalmente compatibles.
• Opción XRR:
  • Ajusta las curvas de reflectividad simuladas a los datos medidos.
  • Los materiales del modelo pueden incluir aquellos con parámetros de red o gradientes de densidad con cinco opciones para el tipo de gradiente.
  • Hay tres opciones disponibles del modelo de rugosidad de la interfaz para el análisis fuera del espectro: fractal, en escalera y almenado.
  • Se pueden visualizar y simular datos de dispersión no especular (difusa) (escaneos omega, 2theta y omega/2theta desplazados). El software simula mapas de espacio recíproco coplanares Qx, Qz, así como no coplanares Qx, Qy.

Base de datos de materiales 

La extensa base de datos de materiales contiene todos los datos de materiales necesarios para usarlos en el análisis de curvas oscilantes, mapeo de obleas, simulación y ajuste: parámetros de celda unidad, coeficientes de Poisson y coeficientes de rigidez cristalinas únicas para algunos óxidos seleccionados y todos los materiales semiconductores compuestos cúbicos comunes más GaN, AlN e InN hexagonales. Además, contiene los números y masas atómicos elementales, así como su absorción de masa y coeficientes de dispersión anómalos para diferentes longitudes de onda fijas de rayos X. La base de datos se puede ampliar mediante la adición de nuevas estructuras de cualquier grupo espacial, además de materiales y valores para otras longitudes de onda. La información y los materiales de la estructura cristalina se pueden importar desde los Archivos de Información Cristalográfica (CIF, Crystallographic Information Files).

Documentación del usuario

La Guía de aplicación está diseñada para ayudarlo a utilizar AMASS de forma rápida y eficaz. Cada uno de los 12 temas proporciona ejemplos resueltos. Estos ejemplos han sido elegidos para demostrar la funcionalidad más importante de AMASS. 

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Especificación

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