XRD2DScan

Características

Análisis de datos 2D de difracción y dispersión

Los datos 2D de difracción y dispersión contienen una gran cantidad de información. El XRD2DScan ofrece una caja de herramientas completa y fácil de usar para extraer y analizar esta información.

Además de la detección de las fases cristalinas (minerales) y amorfas (polímeros), puede estudiar sus características de microestructura (tamaño de grano, orientación preferencial, cristalinidad, grado de orden, etc.), puede calcular las figuras de polo para muestras texturizadas y analizar la falta de homogeneidad de la muestra a través del mapeo de la intensidad del pico, la posición 2Theta y el ancho del pico con un conjunto de patrones 2D. La función de mapeo también es una herramienta muy útil para representar y revisar cómodamente un conjunto de datos de un pocillo.

Tratamiento y correcciones de datos 2D

Además de las herramientas de análisis de datos 2D, el XRD2DScan ofrece varias opciones útiles para el tratamiento y la corrección de datos, incluida la corrección de campo plano, la corrección de fondo, el enmascaramiento de haz directo o reflejos fuertes (p. ej., de un sustrato). También puede rotar y recortar una imagen 2D, puede mejorar la calidad de una imagen 2D aplicando segmentación de datos, suavizado, etc. Puede fusionar varios archivos para mejorar la relación pico-ruido u obtener una representación sumativa de un conjunto de varios archivos. La imagen 2D resultante se puede exportar como un archivo XRDML, ASC, PSF o BMP.

Generación de escaneos 1D a partir de datos 2D

El XRD2DScan puede visualizar varios tipos de datos en 2D (2D XRD, figura de polo, mapas, incluido el mapa de espacio recíproco, etc.) y puede leer varios formatos de archivo (XRDML, PSF, ASC, TIF, etc.). También puede trabajar con archivos 2D medidos en difractómetros de terceros. El XRD2DScan también le permite extraer varios tipos de escaneos 1D: escaneos 2theta (ecuatorial), escaneos gamma (axial), escaneos lineales (en cualquier dirección), escaneo Psi (intensidad de la figura de polo en función del ángulo de inclinación de la muestra en un ángulo de rotación azimutal determinado), escaneo Phi (intensidad de la figura de polo en función del ángulo de rotación azimutal en un ángulo de inclinación de la muestra determinado). Para un conjunto de archivos 2D, también es posible trazar un escaneo Z (una intensidad de sector integral como una función de un número de archivo).

Los escaneos 1D se pueden extraer de toda la imagen 2D o de una parte de la imagen, un sector. El XRD2DScan es compatible con la definición de sectores rectangulares y angulares en 2D. A continuación, es posible exportar escaneos 2theta derivados de las intensidades registradas en el sector seleccionado. Esto es extremadamente útil para muestras con textura fuerte o tamaño de grano grande.

La caja de herramientas para el tratamiento de escaneos 1D incluye corrección de fondo, determinación de picos y ajuste de picos. Para un análisis adicional con otros programas (p. ej., HighScore, HighScore Plus e EasySAXS), los escaneos 1D se pueden exportar como archivos XRDML, ASC, DAT o 2Dint.

Otras herramientas útiles

El XRD2DScan también ofrece varias herramientas útiles, como calibración de distancia entre detector y muestras, múltiples opciones para determinar el centro del patrón, la integración correcta de los datos 2D medidos con el foco lineal de un tubo de rayos X, la opción de especificar la configuración necesaria del instrumento, la opción de simular la cobertura de la figura de polo para simplificar el diseño del experimento de textura.

Especificación

Versión actual	8,0