DDCOM
Ultraschnelle Messung der Kristallausrichtung an der Bodenoberfläche in einem kompakten Gehäuse
- Messung
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Crystal structure determination
- Technologie
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X-ray Diffraction (XRD)
Schnelle und genaue Ausrichtung von Wafern, Säulen und anderen einkristallinen Proben
Unsere Kristallausrichtungslösungen wurden für Säulen-, Barren-, Puck- und Wafer-Anwendungen entwickelt. Unsere Produkte bieten eine einfache und ultraschnelle Kristallausrichtung in einer Vielzahl von Umgebungen.
Von vollständig automatisierten Online-Analysen bis hin zu schnellen Qualitätsprüfungen – wir haben die Lösung für Sie.
