Epsilon-Software
Analytisches EDRFA-Softwarepaket für Epsilon-Systeme. Die tägliche RFA-Analyse kann auch von unerfahrenem Personal nach einer minimalen Einweisung problemlos durchgeführt werden kann.
Übersicht
- Zerstörungsfreie Inline-Prozesssteuerung – keine Probenahme erforderlich
- Verschiedene Scanmodi für kontinuierliche Patch-Beschichtung und mehrspurige Beschichtungsverfahren
- Einfache Integration in Produktionsprozesse mit Standard-Kommunikationsprotokollen
- Messung aller wichtigen Elemente möglich, einschließlich Platin und Cerium
- Kann dünne Schichten mit herausragender Präzision messen
- Geeignet für eine Vielzahl von Rollenbreiten
- Einzigartiger patentierter Roboterarm, der eine optimale Abstandskontrolle ermöglicht, indem der Messkopf in alle Richtungen über die Produktionslinie bewegt werden kann
Bewältigung von Herausforderungen bei der Brennstoffzellenproduktion
Da Platin-Katalysatoren mehr als 20 % Ihrer Gesamtkosten für Brennstoffzellen ausmachen, ist es unerlässlich, die Katalysatorbeschichtung durch gleichmäßige Dispergierung und Schichtung zu optimieren. Und eine schnelle, genaue Prozessüberwachung ist dafür die ideale Lösung! Der Epsilon Xline erleichtert Ihnen die effiziente Betriebssteuerung und bietet folgende Vorteile:
- Minimierung von Spezifikationsabweichungen
- Bewahren von wertvollem Platin
- Herstellung kostengünstiger Endprodukte
Features
- Vollständige Inline-Automatisierung . Profitieren Sie von der kontinuierlichen R2R-Produktion dank der nahtlosen Integrationsoptionen des Epsilon Xline, die für eine Reihe von Dünnschicht- und Beschichtungsanwendungen geeignet sind.
- Einfach und sicher . Der Epsilon Xline ist im Gegensatz zu tragbaren oder älteren Geräten vollständig röntgensicher und benutzerfreundlich und liefert hochgenaue Analysedaten.
- Lebenslange Erfahrung . Mit mehr als 70 Jahren Erfahrung im Bereich der Elementaranalyse hat Malvern Panalytical den Epsilon Xline in Zusammenarbeit mit unseren Industriepartnern entwickelt, um ihren aktuellen Anforderungen gerecht zu werden und gleichzeitig gemeinsam in die Zukunft der Branche zu blicken.
- Maximaler Ertrag . Erzielen Sie eine kostengünstige Produktion mit Echtzeitüberwachung und ohne Unterbrechungen. So erhalten Sie direkte Einblicke und die Kontrolle, die Sie benötigen, um das Beste aus Ihrem Betrieb herauszuholen.
- Optimale Materialeffizienz . Beseitigen Sie Inkonsistenzen, verschwenden Sie keine wertvollen Materialien und garantieren Sie ein hochwertiges Produkt mit unserer Lösung nach Industriestandard.
- Bewährte und patentierte Genauigkeit . Der Epsilon Xline wurde zusammen mit Kunden entwickelt und getestet und verfügt über eine patentierte Höhenkorrektur-Technologie für eine stabile Analyse und genaue Ergebnisse.
Bewährte Technologie
Elementaranalyse in Ihrem Prozess
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) ist eine zerstörungsfreie Elementanalysetechnologie, die eine Inline-Überwachung während der Beschichtungsprozesse katalytischer Membranen ermöglicht – ohne Probenentnahme und ohne chemische oder physikalische Veränderungen.
Diese Online-Analyse ermöglicht eine schnelle Optimierung vieler Prozessparameter und Produkteigenschaften in Echtzeit.
Hohe Reproduzierbarkeit und genaue Messungen bei niedrigem Wartungsaufwand
Die bewährte und robuste Technologie im Epsilon Xline und in unseren Epsilon-Geräten basiert auf den neuesten Fortschritten in der Anregungs- und Detektionstechnologie. Der ausgeklügelte Strahlengang, eine Vielzahl an Anregungsoptionen für leichte und schwerere Elemente und das schnelle, hoch auflösende SDD-Detektorsystem machen den Epsilon Xline einzigartig. Diese Innovationen sorgen für höchst reproduzierbare und genaue Ergebnisse bei niedrigem Wartungsaufwand.
Spezifikation
| Handhabung von Proben | |
|---|---|
| Probentyp | Beschichtungslinie |
| Beschichtungstypen | Durchgehend, Spuren, Patches |
| Produktionsliniengeschwindigkeit bei durchgehender Beschichtung | Maximal 30 m/min |
| Produktionsliniengeschwindigkeit bei Patch-Beschichtung | Maximal 11 m/min |
| Röntgenröhre | |
| Typ | Metall-Keramik, Seitfenster |
| Anoden-material | Ag |
| Röhreneinstellung | Softwaregesteuerte, anwendbare Spannungen 4–50 kV, max 3 mA, max Röhrenleistung 15 W |
| Röhrenfilter | Sechs, per Software auswählbar (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; AG 100 µm |
| Fensterdicke | 50 µm (Be) |
| Detektor | |
| Typ | Hochauflösender Si-Driftdetektor SDD10 |
| Fenster | 8 µm (Be) |
| Auflösung | < 145 eV bei 5,9 keV/1000 cps
Typischerweise 135 eV bei 5,9 keV/1000 cps |
| Sicherheitsnormen | |
| Strahlung | < 1 µSv/h bei 10 cm von der Außenfläche |
Integrierte Konnektivität
Integrieren Sie Epsilon Xline nahtlos in Ihre Produktionslinien mit integrierter OPC-Konnektivität. Und mit dem dedizierten Softwarepaket wird die Einrichtung Ihres Epsilon Xline bei verschiedenen Materialien und Messmodi noch erleichtert. Durch die direkte Eingabe von Befehlen in das Gerät, oder über eine Fernbedienung, zeigt die benutzerfreundliche Oberfläche einen Überblick über die vollständigen Tracking-Daten an.
Stratos-Software
Zur Bestimmung der Zusammensetzung und Dicke von Beschichtungen und Mehrfachschichten mit gleichzeitiger Analyse der chemischen Zusammensetzung und der Dicke von Materialschichten.
Support
Wir sind für Sie da.
Bei Malvern Panalytical investieren Sie nicht nur in ein Gerät, sondern auch in jahrelangen hochwertigen Kundenservice und Produktsupport über die gesamte Lebensdauer hinweg. Unsere Serviceingenieure und unser weltweites Kundensupport-Netzwerk sind immer bereit und bieten fachkundige Ratschläge und Support – Sie können sich also jederzeit an uns wenden!
