Fortschrittliche Partikelcharakterisierung mit Raman-Spektroskopie
Neben den physikalischen Eigenschaften wie der Partikelgröße und -form ist die chemische Identität von Partikeln entscheidend für eine Reihe von Anwendungen:
Malvern Panalytical hat fortschrittliche Instrumente zur chemischen Identifizierung von Partikelproben entwickelt, in denen die hochauflösenden Größen- und Formdaten der automatisierten Bildanalyse mit der hohen chemischen Genauigkeit der Raman-Spektroskopie kombiniert werden.
Schnelle, automatisierte, komponentenspezifische Partikelcharakterisierung in einer einzigen integrierten Plattform
| Technologie | |
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| Bildanalyse | |
| Nahinfrarot-Spektroskopie (NIRS) | |
| Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse | |
| Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) |
Laborgeräte für die qualitative und quantitative Materialanalyse
| Technologie | |
|---|---|
| Bildanalyse | |
| Nahinfrarot-Spektroskopie (NIRS) | |
| Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse | |
| Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) |
Online-Elementaranalysatoren für die effektive Kontrolle einer Vielzahl von industriellen Prozessen
| Technologie | |
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| Bildanalyse | |
| Nahinfrarot-Spektroskopie (NIRS) | |
| Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse | |
| Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) |
Fortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik
| Technologie | |
|---|---|
| Bildanalyse | |
| Nahinfrarot-Spektroskopie (NIRS) | |
| Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse | |
| Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) |
Morphologi 4-IDSchnelle, automatisierte, komponentenspezifische Partikelcharakterisierung in einer einzigen integrierten Plattform |
ASD LabSpec®-ProduktlinieLaborgeräte für die qualitative und quantitative Materialanalyse |
CNA-ProduktlinieOnline-Elementaranalysatoren für die effektive Kontrolle einer Vielzahl von industriellen Prozessen |
2830 ZTFortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik |
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| Technologie | ||||
| Bildanalyse | ||||
| Nahinfrarot-Spektroskopie (NIRS) | ||||
| Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse | ||||
| Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) | ||||
