Aeris
Lassen Sie sich von unserem hochpräzisen und schnellen XRD-System überraschen. Präzise Ergebnisse können in weniger als fünf Minuten vorliegen.
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Download nowFast ein Jahrhundert Erfahrung in der Röntgendiffraktometrie
Röntgendiffraktometer von Malvern Panalytical sind so konzipiert, dass sie Beugungsdaten in höchster Qualität liefern. Dabei bieten sie einen hohen Bedienkomfort und die Flexibilität, schnell zwischen verschiedenen Anwendungen zu wechseln.
Unsere Diffraktometer werden in zahlreichen Umgebungen eingesetzt – von Universitäten und Forschungsinstituten bis zu industriellen Prozesskontroll-Laboren. Unabhängig von Ihren Anforderungen an die Röntgendiffraktometrie (XRD) bieten wir Ihnen stets das geeignete Gerät. Dabei unterstützen wir Sie durch unsere weltweite Vertriebs- und Kundendienstorganisation.
Unsere Mehrzweckdiffraktometer (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) sind alle mit PreFIX-Modulen ausgestattet (von engl.: Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules; vorjustierte, schnell auswechselbare Röntgenmodule). Hierdurch können problemlos und schnell Änderungen am Strahlengang vorgenommen werden. Daher können wir auf einer einzelnen Diffraktometerplattform eine maximale Anzahl von Applikationen anbieten. In unserem Knowledge-Center finden Sie weitere Informationen über die vielen interessanten XRD-Anwendungen, die mit unseren Geräten möglich sind.
Unsere Lösungen zur Kristallorientierung sind für Boule-, Ingot-, Puck- und Wafer-Anwendungen konzipiert.
Unser Angebot an Kristallausrichtungslösungen ist auf Ingot-, Wafer- und Kristallanwendungen ausgelegt. Mit unseren Instrumenten wird die Kristallorientierung in einer Reihe von Umgebungen vereinfacht – von der Online-Analyse bis zur Desktop-Recherche sind wir für Sie da.
AerisDie Zukunft ist kompakt |
EmpyreanDie Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen |
X'Pert³Die verbesserte X'Pert-Plattform |
Crystal orientation-ProduktlinieSchnelle und genaue Ausrichtung von Wafern und Ingots |
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| Technologie | ||||
| Röntgendiffraktometrie (XRD) | ||||
| Typ der Messung | ||||
| Partikelform | ||||
| Partikelgröße | ||||
| Bestimmung von Kristallstrukturen | ||||
| Phasenidentifizierung | ||||
| Phasenquantifizierung | ||||
| Erkennung und Analyse von Verunreinigungen | ||||
| Epitaxieanalyse | ||||
| Grenzflächenrauheit | ||||
| 3D-Struktur/Bildgebung | ||||
| Dünnschicht-Messtechnik | ||||
| Eigenspannung | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||