HTK 16N – high-temperature chamber
Für Pulver-XRD in Reflexionsgeometrie mit schneller Erwärmung auf 1600 °C.
Komplettlösung für Röntgenanalysen vor Ort
Die In-Situ-Röntgenanalyse, oft auch als Analyse bei Non-ambient-Bedingungen bezeichnet, ist eine der wichtigsten Anwendungen für die fortgeschrittene Materialforschung in akademischen und Industrieumgebungen.
Jede makroskopische Eigenschaft eines Materials steht in direktem Zusammenhang mit seiner strukturellen Eigenschaft (z. B. kristallographische Symmetrie, Kristallitgröße, Leerstellen, Größe und Form von Nanopartikeln oder Poren). Temperatur, Druck, variierende Gasatmosphäre und mechanische Phasenumwandlung durch mechanische Belastung, chemische Reaktionen, Rekristallisierung usw.
Röntgenbeugung (XRD) und Röntgenstreuverfahren sind die erste und manchmal die einzige Wahl für die korrekte und genaue In-Situ-Charakterisierung dieser Änderungen. Ob zur Optimierung eines Fertigungsprozesses oder zur Abstimmung eines Syntheseverfahrens oder zur aktuellsten Forschung und Herstellung neuer Materialien – die In-Situ-Röntgenanalyse ist das umfassendste Tool zur Problemlösung.
Lade die Broschüre herunter, um eine Übersicht über die Non-ambient-Aufsätze und ihren Anwendungsbereich zu erhalten.
