Funktionen
Vollständige Palette von Texturberechnungen
Texture berechnet den ODF mit der WIMV-Methode. Als Eingabe können Polfigurmessungen aus polykristallinen Materialien mit kubischer, hexagonaler, trigonaler, orthorhombischer, tetragonaler oder monoklinischer Kristallsymmetrie verwendet werden. Die Probensymmetrie, die bei den Berechnungen in den Polfigurmessungen verwendet wird, ist entweder orthorhombisch oder triklinisch. Vor den ODF-Berechnungen können die Polzahlen hinsichtlich der Hintergrundintensität und defokussierenden Aberrationen korrigiert werden. Aus den ODF-Ergebnissen können sowohl Polfiguren als auch inverse Polfiguren rekonstruiert werden.
Grafische Darstellung
Spezielle grafische Fenster und Ansichten, dienen zur Beobachtung und Analyse textbezogener Daten: Polzahlen, Korrekturkurven und ODFs.
Polfiguren können in vier verschiedenen grafischen Stilen dargestellt werden: 1D, 2D in Wulff- oder Schmidt-Projektion, 2.5D (zylindrisch) und 3D (sphärisch) Ansichten.
ODFs können in 2D- oder 3D-Formaten (Iso-Oberfläche) mit Achsen nach Bunge- oder Roe-Notationen angezeigt werden.
Korrekturkurven für Hintergrund und Unschärfe werden in 1D als Funktion des Neigungswinkels angezeigt.
Datenverarbeitung
Texture unterstützt das XRDML-Datenformat von Malvern Panalytical. Berechnete Daten können in die Formate RW1 und cor exportiert sowie zur Übertragung über die Zwischenablage in andere Softwarepakete wie Microsoft Excel kopiert werden.
Spezifikation
Messsysteme
Folgende Systeme können zum Sammeln und Speichern von Texturdaten verwendet werden:
- Empyrean mit Data Collector 4.0 und höher
- X’Pert pro mit X’Pert Data Collector 1.3 oder 2.0 und höher
- X’Pert3 mit Data Collector 4.3 und höher
Empfohlene Systemkonfiguration
Entwickelt für Windows 8.1 (64-Bit) und Windows 10 (64-Bit) Current Branch for Business-Betriebssysteme.
Eine PC-Konfiguration, die den (minimalen) Hardwareanforderungen für das gewünschte Windows-Betriebssystem entspricht, ist ausreichend.
| Aktuelle Version | 1,3 |
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