-FP für die Elementaranalyse unterschiedlichster Kupferlegierungen
Der Begriff „Cu-base“ beschreibt Legierungen, deren Hauptbestandteil Kupfer ist. Um die Werkstoffe für die jeweiligen Anwendungen zu optimieren (z. B. für Münz- und Glockenmetalle, für mechanische Geräte oder für elektrische Leiter), wird Cu üblicherweise in Legierungen mit anderen Elementen wie Sn, Zn, Ni, Al und Pb verwendet. Während des Fertigungsprozesses wird eine schnelle Elementaranalyse benötigt, um Fertigungsfehler zu minimieren und die Fertigungsausbeute zu maximieren.
Das Cu-base-FP-Paket (entsprechende Kalibrierungsstandards gehören zum Lieferumfang) deckt die Analyse dieser vielfältigen Cu-Legierungen unter Verwendung des FP-Modells (Fundamentale Parameter) von Malvern Panalytical ab.
Das Cu-base-FP-Modul verfügt über eine Reihe sorgfältig ausgewählter zertifizierter Referenzproben und Anwendungsvorlagen für die einfache Methodenkonfiguration. Das Modul ermöglicht eine sehr genaue und präzise Analyse einer Vielzahl von Materialien auf Kupferbasis:
Das Cu-base-FP-Modul ist für die Verwendung in Kombination mit dem in der SuperQ-Software verwendeten FP-Algorithmus von Malvern Panalytical vorgesehen, der Matrixkorrekturen anhand der theoretischen Prinzipien der Röntgenphysik berechnet. Daher haben die FP-Modelle einen deutlichen Vorteil gegenüber den traditionellen auf dem Einflusskoeffizienten basierenden Matrixkorrekturen, z. B. theoretische Alphas oder empirische Korrekturen. Im Gegensatz zu theoretischen Alphas führt das FP-Modell Matrixkorrekturen durch, die für jede Probe spezifisch sind. Dies ermöglicht genaue Analysen in großen Konzentrationsbereichen und für viele verschiedene Probentypen.
Das Cu-base-Modul besteht aus:
Das Cu-base-FP-Modul und die Einrichtungsproben sind für die Verwendung in Kombination mit den WDRFA-Geräten von Malvern Panalytical wie Zetium vorgesehen. Es gelten bestimmte Hardwarevoraussetzungen. Das Modul kann als vorkalibrierte Lösung auf neuen Systemen geliefert werden, kann aber auch auf vorhandenen Geräten bereitgestellt werden, auf denen die SuperQ-Software ausgeführt wird.
Die abgedeckten Elemente und Konzentrationen werden in der folgenden Tabelle aufgeführt:
| Element | Konzentrationsbereich (Gew.-%) |
|---|---|
| Mg | < LLD – 0.3 |
| Al | < LLD – 13 |
| Si | < LLD – 0.6 |
| P | 0.001 – 1 |
| S | 0.0013 – 0.1 |
| Cr | 0.0013 – 1 |
| Mn | < LLD – 2.3 |
| Fe | 0.003 – 5.6 |
| Co | 0.012 – 0.3 |
| Ni | 0.007 – 33 |
| Cu | 54.4 – 96 |
| Zn | 0.013 – 43 |
| As | < LLD – 0.3 |
| Sn | 0.006 – 17 |
| Sb | 0.005 – 0.5 |
| Pb | 0.005 – 21 |
| Bi | < LLD – 2 |
Hinweis: Wenn die zertifizierte Konzentration unter dem LLD-Wert liegt, wird die Untergrenze des Konzentrationsbereichs mit „< LLD“ angegeben.
