2830 ZT 预安装手册
Número da versão: 4
2830 ZT
O analisador de wafers de fluorescência de raios X por dispersão em comprimento de onda (WDXRF) 2830 ZT oferece recursos de última geração para medir a espessura e a composição de filme. Projetado especificamente para o setor de semicondutores e de armazenamento de dados, o analisador de wafers 2830 ZT possibilita determinar a composição das camadas, a espessura, o nível de dopantes e a uniformidade de superfície para vários tipos de wafers de até 300 mm.
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Manuais do usuário
2830 ZT Pre-installation manual
Número da versão: 4
2830 ZT User Guide
Número da versão: 2
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Malvern Panalytical Future Days: Focus On Semiconductor
- Produtos:
- Crystal orientation range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), X'Pert3 range
- Tecnologia:
- X-ray Fluorescence (XRF), Espalhamento de luz dinâmico, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), X-ray Diffraction (XRD)
- Setor:
- Semicondutores/Eletrônicos
Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- Produtos:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, Epsilon range, Linha CNA, Zetium
- Tecnologia:
- X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
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