X'Pert³ MRD
Os sistemas X'Pert³ MRD oferecem soluções avançadas e inovadoras de difração de raios X, desde a pesquisa até o desenvolvimento e controle de processos.
Os recursos incluem
- Bolacha máx. diâmetro: 100mm
- SEC/GEM
- Sala Limpa ISO 4
A plataforma X'Pert aprimorada
A bem-sucedida plataforma X'Pert é continuada pela linha X'Pert³ de sistemas de difração de raios X da Malvern Panalytical. Com os novos componentes eletrônicos de controle integrados, conformidade com as mais recentes e rigorosas normas de segurança de raios X e movimentos, avanços na sustentabilidade e confiabilidade, a plataforma X'Pert³ está pronta para o futuro.
• Vida útil mais longa dos componentes do feixe incidente com CRISP
• Tempo de atividade máximo com obturadores pneumáticos e atenuadores de feixes
• Extensão fácil para novas aplicações graças à tecnologia PreFIX de segunda geração
• Troca rápida, confiável e sem ferramentas da posição de foco do tubo
• Novo sistema eletrônico de controle integrado com conexão direta com a Internet
• Conformidade com os mais rigorosos regulamentos de segurança
Os sistemas X'Pert³ MRD oferecem soluções avançadas e inovadoras de difração de raios X, desde a pesquisa até o desenvolvimento e controle de processos.
Os recursos incluem
Uma plataforma de montagem PreFIX extra permite a montagem de um espelho de raios X e um monocromador de alta resolução em linha, aumentando significativamente a intensidade do feixe incidente.
Os recursos incluem
X'Pert³ MRDVersátil sistema XRD de pesquisa e desenvolvimento |
X'Pert³ MRD XLVersátil sistema XRD de pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade |
|
|---|---|---|
| Tecnologia | ||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||
| Tipo de medição | ||
| Identificação de fase | ||
| Quantificação de fase | ||
| Metrologia de filme fino | ||
| Tensão residual | ||
| Rugosidade da interface | ||
| Análise de epitaxia | ||
| Análise de textura | ||
| Análise de espaço recíproco | ||
| Wafer max. diameter | 100 mm | 300 mm |
| SECS/GEM | ||
| Cleanroom ISO 4 | ||