Fluorescência de raios X (XRF)
Espectroscopia de fluorescência de raios X e aplicações de XRF
Em várias aplicações, saber a concentração elementar é um fator crítico no controle das propriedades do material ou para garantir o seguimento dos regulamentos de segurança e saúde. Por esse motivo, não é no geral suficiente apenas detectar a presença de elementos, mas é preciso também quantificar suas concentrações.
O grau de precisão necessário depende da aplicação.
Técnicas de quantificação
Fluorescência de raios X e Pulsed Fast Thermal Neutron Activation são técnicas analíticas não destrutivas, estáveis e fáceis de usar para determinar a composição elementar de vários materiais em uma ampla gama de aplicações. Para se quantificar as concentrações elementares com essas técnicas, as intensidades medidas são comparadas com as intensidades de materiais de referência certificados ou padrões internos com concentrações conhecidas. Esses padrões devem se assemelhar o máximo possível ao material de amostra para a obtenção de resultados precisos. As intensidades medidas são também afetadas pelas propriedades físicas da amostra e, dessa forma, várias correções geralmente precisam ser aplicadas, as quais são cuidadas pelo software do usuário.
Ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA)
Software sem padrão
Em vários setores, uma triagem rápida do material de amostra de composição desconhecida é necessária sem ter padrões dedicados.
Nesses casos, um software de análise sem padrão Omnian pode ser usado para determinar a composição elementar geral e fornecer valores semiquantitativos das concentrações elementares.
