Aeris
Prepare-se para se surpreender com nosso sistema XRD rápido e altamente preciso. Resultados precisos podem ficar prontos em menos de cinco minutos.
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Download nowAtendendo à comunidade de difração de raios X por quase um século
Os difratômetros de raios X foram projetados para obter dados de difração de altíssima qualidade, em conjunto com a facilidade de uso e a flexibilidade para rapidamente alternar para diferentes aplicações.
Nossos difratômetros são usados em vários ambientes, desde universidades e institutos de pesquisa até laboratórios de controle de processos industriais. Seja qual for sua necessidade de difração de raios X (XRD), oferecemos o instrumento certo, com o suporte de nossa organização mundial de vendas e serviços.
Os nossos difratômetros multifuncionais (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) estão todos equipados com módulos PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray), fazendo com que o usuário não tenha nenhum esforço em uma alteração no trajeto óptico. Por esse motivo, oferecemos a maioria das aplicações em uma única plataforma de difratômetro. Leia mais em nosso centro de conhecimento sobre as várias aplicações de XRD que você pode fazer com nossos equipamentos.
Nossas soluções de orientação de cristal são projetadas tendo em mente aplicações de boule, lingote, disco e wafer.
Nossa linha de soluções de orientação de cristal é projetada tendo em mente aplicações em lingotes, wafers e cristais. A orientação do Crystal é simplificada em uma variedade de ambientes com nossos instrumentos - desde análise on-line até pesquisa em desktop, temos tudo o que você precisa.
AerisO futuro é compacto |
Variedades do EmpyreanA solução multifuncional para suas necessidades analíticas |
X'Pert³A plataforma X'Pert aprimorada |
Linha Crystal OrientationOrientação rápida e precisa de wafers e lingotes |
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| Tecnologia | ||||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||||
| Tipo de medição | ||||
| Forma da partícula | ||||
| Tamanho da partícula | ||||
| Determinação de estrutura cristalina | ||||
| Identificação de fase | ||||
| Quantificação de fase | ||||
| Detecção e análise de contaminantes | ||||
| Análise de epitaxia | ||||
| Rugosidade da interface | ||||
| Estrutura/imagem 3D | ||||
| Metrologia de filme fino | ||||
| Tensão residual | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||