HTK 16N – high-temperature chamber
Para DRX em pó na geometria de reflexão com aquecimento rápido a 1.600 ºC.
Solução completa para análise de raios X in situ
A análise de raios X in situ, muitas vezes referida como análise em condições não ambientais, é uma das principais aplicações para pesquisa avançada de materiais em ambientes acadêmicos e industriais.
Qualquer propriedade macroscópica de um material está diretamente relacionada à sua propriedade estrutural (por exemplo, simetria cristalográfica, tamanho cristalito, vagas, tamanho e forma de nanopartículas ou poros). Temperatura, pressão, atmosfera de gás variável e transformação da fase de acionamento por tensão mecânica, reações químicas, recristalização etc.
As técnicas de difração de raios X (DRX) e de espalhamento de raios X são as primeiras e às vezes a única escolha para a caracterização in situ correta e precisa dessas alterações. Quer seja para a otimização de um processo de fabricação, para o ajuste de um procedimento de síntese ou para pesquisa de ponta e criação de novos materiais, a análise de raios X in situ é a ferramenta mais abrangente para a solução de problemas.
Baixe o folheto para obter uma visão geral dos anexos não ambientais e sua área de aplicação.
