多角光散射 (MALS)

SEC-MALS 偵測器 會由多個角度測量樣本的散射光線，並用以產生德拜圖。德拜圖呈現出樣本散射的角度相依性，可用以判定在層析圖內每個資料切片的 Mw 和 Rg。 

重要的是，必須仔細考量為此分析選擇的擬合順序和模型，因為這會對結果造成重大影響。半徑小於 10-15 nm 的等向性散射體會將光均勻散射到各個方向，因此只能測量 Mw。半徑超過 10-15 nm 的異向性散射樣本會往前散射更多的光，因此可以測量 Mw 和 Rg。 

使用 Rg 產生構形圖 (Rg 對 Mw 的圖)，即可用以測量樣本之間的任何結構差異。