顆粒特性分析是量測與分析顆粒的物理和化學特性之過程,這些特性包括粒徑、形狀、表面積和分析化學組成。
對於瞭解顆粒在各種應用中的行為和效能而言,此分析十分重要。
動態光散射技術 (DLS) 是用於量測懸浮液中小顆粒,或溶液中聚合物粒徑分佈的技術。其運作原理是分析顆粒的布朗運動所引起的光散射波動。DLS 廣泛用於製藥和材料科學的特性奈米顆粒、蛋白質和其他膠體系統。
Malvern Panalytical 的 Zetasizer Advance 系列提供 DLS 量測的高效能儀器,為研究和品質控制提供精確的粒徑分析。40 多年來,Malvern Panalytical 一直是 DLS 系統的創新者,同時也是該領域值得信賴的市場領導者。Zetasizer Advance 系列即建構在這段驕傲的歷史上,提供高靈敏度、易於使用,以及可據以行動的資料分析,助您自信地進一步研究與開發產品。
雷射繞射技術是一項廣泛使用的技術,用於量測粒徑分佈。此技術的運作原理為偵測雷射光束照射時,粒子的散射光模式。此技術適用於製藥、食品與飲料、材料科學等產業的品質控管和研究。
Malvern Panalytical 的 Mastersizer 3000+ 系列運用雷射繞射技術提供準確且高重複性的粒徑分佈,適用於各種產業和研究應用。
奈米粒子追蹤分析會追蹤懸浮液中個別粒子的布朗運動,以量測粒徑與濃度。分析複雜流體中的奈米粒子時,此技術格外實用。奈米粒子追蹤分析廣泛用於用於奈米技術、生命科學與環境監控。
Malvern Panalytical 的 Nanosight Pro 使用 PTA 技術,提供奈米粒子的高解析度粒徑分佈與濃度量測值。
Zeta 電位分析量測懸浮液中的顆粒表面電荷,電荷會影響顆粒的穩定性與交互作用。對於瞭解及控制藥品、化妝品和其他產業的膠體穩定性來說,此技術十分重要。
Malvern Panalytical 的 Zetasizer Advance 系列包括提供 DLS 和 Zeta 電位量測的儀器,提供全方位顆粒特性功能。
測量粒徑的智慧方法
Mastersizer 3000+ 系列使用雷射繞射技術來量測顆粒大小分佈。提供從次微米乃至毫米等級的廣泛量測範圍,能夠迅速取得可靠結果。
面面俱到的光散射技術
Zetasizer Advance 系列運用動態光散射技術 (DLS) 進行粒徑和顆粒濃度分析,並且使用電泳光散射技術 (ELS) 量測 Zeta 電位。提供精準可靠的奈米顆粒、膠體和蛋白質量測結果。
為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統
Morphologi 系列提供自動成像,以詳細分析粒徑與形狀。提供高解析度成像和全面的形態資料。
噴霧顆粒與噴霧液滴尺寸的量測
Spraytec 運用雷射繞射技術即時量測噴霧液滴和粒徑分佈。此產品是專為處理各種噴霧類型及條件所設計。
奈米和生物材料的特性分析從未如此快速、簡便又準確。
Nanosight Pro 採用奈米顆粒追蹤分析 (NTA) 來量測粒徑分佈狀態與濃度。提供奈米顆粒的高解析度追蹤與視覺化。
稳健可靠的实时粒径测量
Insitec 系列為即時製程監測與控制提供線上粒徑分析儀。運用雷射繞射技術持續量測粒徑分佈狀態。
Zetasizer Advance 系列面面俱到的光散射技術 |
Mastersizer 系列測量粒徑的智慧方法 |
Morphologi 系列為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統 |
NanoSight Pro奈米和生物材料的特性分析從未如此快速、簡便又準確。 |
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技術類型 | ||||
雷射繞射 | ||||
動態光散射 | ||||
奈米顆粒追蹤分析 | ||||
影像分析 | ||||
量測類型 | ||||
Zeta 電位 | ||||
顆粒尺寸 | ||||
顆粒濃度 | ||||
顆粒形狀 |