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2830 ZT先進半導體薄膜的精密量測解決方案 |
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技術類型 | ||||
影像分析 | ||||
近紅外線光譜 (NIR) | ||||
脈衝快熱中子活化 (PFTNA) | ||||
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) |