X 射线荧光元素分析

请见以下可用的 XRF 校准模块和参考材料：

Omnian

Omnian 用于对各种材料进行无标元素分析
Omnian

Stratos

Stratos 用于薄膜的厚度和成份分析
Stratos

NiFeCo

NiFeCo - 多种 Ni、Fe 和 Co 基合金的元素分析基础参数
NiFeCo

Cu-base

Cu-base - 多种 Cu 合金的元素分析基础参数
Cu-base

低合金钢

LAS 用于低合金钢的元素分析
低合金钢

Pro-Trace

Pro-Trace 用于高准确度的痕量分析
Pro-Trace

Oil-Trace

Oil-Trace 用于多用途石油和燃料分析
Oil-Trace

ADPOL

ADPOL 用于对聚合物中的添加剂和填充剂进行分析
ADPOL

TOXEL

TOXEL 用于对聚合物中的有毒元素进行准确分析
TOXEL

RoHS WEEE

RoHS WEEE 标准液用于 RoHS 限制材料的分析
RoHS WEEE