DDCOM
컴팩트한 패키지가 선사하는 초고속 하단 표면 측정 결정 방향
- 측정
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Crystal structure determination
- 기술 유형
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X-ray Diffraction (XRD)
웨이퍼, 보울 및 기타 단결정 샘플의 빠르고 정확한 방향
당사의 결정 방향 솔루션은 보울, 잉곳, 퍽 및 웨이퍼 응용 분야를 염두에 두고 설계되었습니다. 당사의 제품은 다양한 환경에서 간단한 초고속 결정 방향을 제공합니다.
완전 자동화된 온라인 분석에서 빠른 품질 검사에 이르기까지 다양한 기능을 제공합니다.
