Crystal orientation 시리즈

웨이퍼와 잉곳의 빠르고 정확한 방향 조정

당사의 Crystal Orientation 솔루션은 부울, 잉곳, 퍽 및 웨이퍼 애플리케이션을 염두에 두고 설계되었습니다. 당사의 제품은 다양한 환경에서 간단하고 초고속 결정 방향을 제공합니다.

완전 자동화된 온라인 분석부터 빠른 품질 검사까지 모든 서비스를 제공합니다.

지원되는 제품

DDCOM

컴팩트한 패키지가 선사하는 초고속 자동 결정 방향

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
DDCOM

XRD-OEM

완전히 자동화된 인라인(In-line) 방향 측정 및 잉곳(Ingot), 보울(Boule), 퍽(Puck) 처리

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
XRD-OEM

Wafer XRD 200

빠르고 정밀하며 완벽한 설비: 웨이퍼 측 제어를 위한 당사의 솔루션

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

통합형 웨이퍼 방향 솔루션

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 300

SDCOM

컴팩트한 패키지가 선사하는 초고속의 유연한 결정 방향

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
SDCOM

Omega/Theta XRD

초고속 결정 방향을 위한 완전 자동 수직 3축 X선 회절분석기

측정
Crystal structure determination
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)
Omega/Theta XRD