Présentation de la spectroscopie à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et des spectromètres WDXRF de Malvern Panalytical
La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse non destructive utilisée pour obtenir des informations élémentaires à partir de différents types de matériaux.
Elle est employée dans de nombreuses industries et applications, notamment : la production de ciment, la production de verre, l'exploitation minière, l'enrichissement minéral, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le pétrole et les produits pétrochimiques, les polymères et les industries connexes, les produits pharmaceutiques, les produits de santé et les produits environnementaux.
Les systèmes de spectromètre sont généralement divisés en deux groupes principaux : les systèmes à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et les systèmes à dispersion d'énergie (EDXRF). La différence entre les deux porte sur le système de détection.
Le concept de base de tous les spectromètres est constitué des éléments suivants : une source de rayonnement, un échantillon et un système de détection. Dans les spectromètres WDXRF, le tube à rayons X, qui agit en tant que source, irradie directement un échantillon, et la fluorescence provenant de l'échantillon est mesurée avec un système de détection à dispersion de longueur d'onde.
Le rayonnement caractéristique provenant de chaque élément individuel peut être identifié en analysant les cristaux qui séparent les rayons X en fonction de leur longueur d'onde ou, inversement, de leurs énergies.
Une telle analyse peut être effectuée soit en mesurant l'intensité des rayons X à différentes longueurs d'onde l'une après l'autre (séquentielle), soit, dans des positions fixes, en mesurant les intensités des rayons X à différentes longueurs d'onde en même temps (simultanée).
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