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Find out moreSpectromètres à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de Malvern Panalytical
La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse non destructive utilisée pour obtenir des informations élémentaires à partir de différents types de matériaux.
Elle est employée dans de nombreuses industries et applications, notamment : la production de ciment, la production de verre, l'exploitation minière, l'enrichissement minéral, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le pétrole et les produits pétrochimiques, les polymères et les industries connexes, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, les produits environnementaux, l'alimentation et les cosmétiques.
Les systèmes de spectromètre sont généralement divisés en deux groupes principaux : les systèmes à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et les systèmes à dispersion d'énergie (EDXRF). La différence entre les deux porte sur le système de détection.
Le concept de base de tous les spectromètres est constitué des éléments suivants : une source de rayonnement, un échantillon et un système de détection. Dans les spectromètres EDXRF, le tube à rayons X, qui agit en tant que source, irradie directement un échantillon, et la fluorescence provenant de l'échantillon est mesurée avec un détecteur à dispersion d'énergie. Ce détecteur est capable de mesurer les différentes énergies du rayonnement caractéristique provenant directement de l'échantillon. Le détecteur peut distinguer le rayonnement de l'échantillon des rayonnements des différents éléments présents dans l'échantillon. Cette séparation est appelée dispersion.
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