Stratos

Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches

Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes. 


Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Télécharger la brochure
Demander un devis Demander une démonstration Contact commercial

Fonctionnalités

Réduction du besoin de matériaux de référence en couches

L'un des avantages exceptionnels de l'emballage Stratos est que d'excellents résultats sont obtenus avec des instruments étalonnés à l'aide d'échantillons standard ou de référence XRF en vrac conventionnels, dont la composition et la structure de couche diffèrent de celles des modèles inconnus. Cela résout le problème courant de l'obtention de standards de couches minces certifiés coûteux qui, si disponibles, correspondent aux échantillons de production rencontrés dans l'analyse des wafers de semi-conducteurs et des métaux plaqués. Si l'option Omnian est également disponible, les étalons et l'étalonnage d'Omnian peuvent être directement utilisés pour Stratos.


Virtual Analyst - développement de méthodes simplifié

Le module logiciel Stratos comprend Virtual Analyst, votre consultant pour le développement de méthodes avancées. En fonction de la définition de votre structure d'échantillons, Virtual Analyst simule la réponse fluorescente de l'échantillon et vous fournit les paramètres optimaux pour l'analyse, éliminant ainsi les longues expériences d'essai et d'erreur normalement nécessaires à la configuration de ces applications complexes.


Modèle de fluorescence d'algorithmes avancés pour les piles complexes

Stratos utilise des paramètres fondamentaux pour calculer à la fois les intensités de rayons X théoriques pour chaque constituant et les intensités dispersées de Compton de l'échantillon. Elles sont ensuite corrélées avec les intensités mesurées à partir des étalons de référence, afin d'obtenir les facteurs instrumentaux essentiels qui forment la base des calculs. Pour caractériser des échantillons inconnus, des compositions estimées sont saisies pour une ou plusieurs couches présentes. Un processus répété d'affinement est utilisé jusqu'à ce qu'une correspondance étroite soit obtenue avec les valeurs mesurées.

Spécifications

Stratos permet une détermination précise de l'épaisseur et de la composition pour les industries du revêtement et de l'emballage. Les principaux avantages incluent une capacité multi-couches optimisée, des coûts d'étalonnage réduits, une flexibilité totale et une facilité d'utilisation grâce à la configuration intuitive de la recette avec l'aide de Virtual Analyst et l'analyse par pression d'un bouton avec création automatique de rapports. L'analyse peut être exécutée sans intervention de l'opérateur et les données peuvent être transmises à un LIMS ou, à l'aide de l'UAI, à un système hôte d'usine. Les résultats sont présentés sous forme de pourcentages d'éléments ou d'épaisseurs de masse.