Présentation générale
Une valeur ajoutée au-delà de la conformité
L'Epsilon 4 offre d'excellentes performances pour l'analyse élémentaire dans différents procédés de raffineries. Ce nouvel instrument de spectrométrie de fluorescence X de paillasse puissant est parfaitement adapté à l'analyse des additifs et des métaux d'usure dans les lubrifiants conformément aux dernières méthodes de test internationales pertinentes. L'illustration ci-dessous présente les valeurs ajoutées significatives obtenues par l'Epsilon 4, qui ne représente qu'un investissement modeste.
Fonctionnalités
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse
Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Performances garanties
L'Epsilon 4 est un instrument de spectrométrie de fluorescence X de paillasse haute performance et s'adapte parfaitement à l'analyse des additifs et des métaux d'usure dans les lubrifiants neufs et inutilisés. L'instrument de spectrométrie de fluorescence X de paillasse offre un moyen rapide d'analyser les lubrifiants sans la nécessité de préparer les échantillons et d'utiliser des produits chimiques.L'Epsilon 4 est conforme à la dernière méthode d'essai ASTM D7751-15 pour l'analyse du magnésium, phosphore, soufre, chlore, calcium, zinc et molybdène dans les lubrifiants neufs par spectrométrie de fluorescence X.
Calibré pour des années
Un tube à rayons X à faible dérive et un système de correction de dérive automatique permettent d'obtenir des résultats conformes pour de longues années sans la nécessité d'un recalibrage. Cela se traduit par une utilisation plus efficace du système et une réduction des coûts de maintenance du calibrage.
Sensible et rapide
Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées.
Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.
Réduction de la consommation d'hélium
Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.
Spécifications
| Manipulation des échantillons | Tube à rayons X | Détecteur | Logiciels |
|---|---|---|---|
| Passeur d'échantillon amovible à 10 positions | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα | Calibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace |
| Généralement des échantillons liquides de 5 ml | Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort | Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian |
| Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI | Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité | Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint |
Accessoires
Étalons (matériaux de référence)
Logiciels
Logiciel Epsilon
La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.
Omnian
Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.
Oil-Trace
FingerPrint
Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.
Assistance
Équipements
Solutions pour optimiser votre retour sur investissement
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Assistance
Service à vie
- Assistance téléphonique et à distance
- Maintenance préventive et contrôles
- Contrats de service client flexibles
- Certificat de performances
- Mises à niveau matérielles et logicielles
- Assistance locale et mondiale
Expertise
Ajout de valeur à vos procédés
- Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
- Méthodes analytiques
- Solutions clé en main pour XRD
- Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
- Automatisation des procédés de laboratoire
- Services de conseils
Formation et éducation
- Formation sur site ou dans nos centres de compétence
- Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Services analytiques et matériel d'étalonnage
- Services d'analyses d'experts (XRF)
- Analyse d'oxydes et d'éléments traces
- Matériel d'étalonnage personnalisé
Applications clés
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux.
Les échantillons peuvent être mesurés comme :
- Solides
- Poudres compactes
- Poudres libres
- Liquides
- Perles de fusion
- Boues
- Granules
- Filtres
- Films & revêtements