Pour l'analyse élémentaire sans étalon d'une vaste gamme de matériaux
Face à des échantillons totalement inconnus ou lorsque les étalons de calibration ou les matériaux de référence sont difficiles à obtenir voir indisponibles, l'analyse XRF représente une solution intéressante. Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir des analyses optimales lorsqu'il n'existe pas de méthodes XRF dédiées ou d'étalons certifiés.
Disponible pour les spectromètres des gammes Zetium, Axios ou MagiX et les systèmes de paillasse Epsilon, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou de matrice.
Omnian couvre tous les éléments de F à U. Des résultats quantitatifs peuvent être obtenus pour de très nombreux types d'échantillons comme les poudres compactées, les échantillons sous forme de perles, les poudres non compactées et les liquides. Outre l'analyse élémentaire des échantillons de routine, Omnian permet de réaliser facilement et rapidement l'analyse d'échantillons « occasionnels », des criblages et des analyses de défaillance.
Pour une évaluation rapide, Omnian génère des résultats fiables en moins de 2 minutes grâce au mode de balayage rapide des systèmes WD XRF. Cela est possible grâce à la combinaison d'une stratégie de mesure de pic élémentaire spécifique rapide et des calculs de bruit de fond précis qui ne peuvent être générés que par une stratégie de balayage. Le programme de balayage peut être amplifié à l'aide de canaux spécifiques si une précision plus élevée pour l'analyse d'éléments mineurs et à l'état de trace est requise.
Le module Omnian combine un logiciel et des échantillons de configuration. Les échantillons de configuration sont soigneusement conçus pour permettre l'analyse des matrices les plus complexes. Fabriqués à partir de matières premières pures, les échantillons de configuration sont utilisés pour ajuster le logiciel Omnian aux subtilités du spectromètre tout en incorporant les caractéristiques d'éléments spectraux qui contournent les limitations des autres stratégies semi-quantitatives.
Le module Omnian comprend les éléments suivants :
Le module Omnian et les échantillons de configuration sont conçus pour être utilisés en combinaison avec les instruments de Malvern Panalytical, notamment les gamme Zetium, Axios ou MagiX et le système de paillasse Epsilon. Certaines exigences matérielles s'appliquent. Le module peut être fourni précalibré sur de nouveaux systèmes, mais également être déployé sur des instruments existants exécutant le logiciel SuperQ. Les échantillons de configuration Omnian sont également disponibles séparément.
