De nombreuses techniques d'analyse élémentaire sont disponibles pour le contrôle de la qualité et du processus. L'ICP, l'AAS, l'ICP-MS, l'ICP-OES et la spectroscopie par fluorescence X (XRF) sont des techniques traditionnelles utilisées dans de nombreux secteurs. Chacune de ces techniques présente un certain nombre d'avantages et d'inconvénients, ce qui permet à l'analyste de choisir la technologie qui convient le mieux. Lorsque les limites de quantifications requises sont supérieures à 1 ppm (µg/g) ou lorsqu'une analyse non destructive est nécessaire, la fluorescence X (XRF) est une technique très intéressante qui doit être prise en compte, en particulier lors de l'analyse de solides, de poudres, de boues, de filtres et d'huiles.
Contrairement à l'ICP et à l'AAS, la spectroscopie de la fluorescence X ne nécessite pas la dissolution ou la digestion de l'échantillon, ce qui permet une analyse essentiellement non destructive. En évitant le risque d'inexactitudes dues à une dissolution incomplète et à de grandes dilutions, l'analyse complète par fluorescence X (XRF) permet de garantir la précision et la fiabilité des résultats.
Cinq des nombreux avantages de la fluorescence X (XRF) sont abordés :
1. Préparation d'échantillons simple, rapide et sécurisée sans déchets chimiques
2. Technique analytique non destructive
3. Faible coût de propriété
4. Analyse sur le site de production (en ligne)
5. Aucun réétalonnage quotidien n'est nécessaire
Les mesures par XRF sont réalisées directement sur la matière solide (ou liquide) avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Les analyseurs XRF peuvent fonctionner avec n'importe quel type d'échantillon sans dilution ni digestion. Par conséquent, aucune élimination des déchets chimiques n'est nécessaire. Le transfert de liquides d'un récipient à un autre dans des méthodes chimiques humides peut entraîner une contamination et/ou une perte de matière.
La mesure de volumes d'échantillons relativement importants (100 mg à 10 grammes) permet d'obtenir une caractérisation plus représentative de l'échantillon. De plus, les erreurs dues à l'inhomogénéité des échantillons sont facilement minimisées en utilisant des volumes d'échantillons plus importants. La fluorescence X peut mesurer des quantités de l'ordre du gramme sans aucun risque de contamination croisée et l'erreur dans un résultat de fluorescence X est, par conséquent, beaucoup plus faible.
Dans les spectromètres XRF pour paillasse, l'échantillon est excité à l'aide d'un tube à rayons X et les rayons X caractéristiques de l'échantillon sont détectés et traités automatiquement par le logiciel. Ces tubes à rayons X de faible puissance ne produisent pas une grande quantité de photons de rayons X ou de chaleur et n'endommagent donc pas l'échantillon ou n'altèrent pas sa structure cristalline. Les échantillons de forme irrégulière qui entrent dans le spectromètre peuvent être analysés sans qu'il soit nécessaire de procéder à une préparation destructive des échantillons, telle que le broyage et le concassage.
Le même échantillon qui a été analysé par XRF peut ensuite être analysé à l'aide d'autres techniques pour une analyse plus approfondie, si nécessaire.
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De nombreuses techniques d'analyse élémentaire sont disponibles pour le contrôle de la qualité et du processus. L'ICP, l'AAS, l'ICP-MS, l'ICP-OES et la spectroscopie par fluorescence X (XRF) sont des techniques traditionnelles utilisées dans de nombreux secteurs. Chacune de ces techniques présente un certain nombre d'avantages et d'inconvénients, ce qui permet à l'analyste de choisir la technologie qui convient le mieux. Lorsque les limites de quantifications requises sont supérieures à 1 ppm (µg/g) ou lorsqu'une analyse non destructive est nécessaire, la fluorescence X (XRF) est une technique très intéressante qui doit être prise en compte, en particulier lors de l'analyse de solides, de poudres, de boues, de filtres et d'huiles.
Contrairement à l'ICP et à l'AAS, la spectroscopie de la fluorescence X ne nécessite pas la dissolution ou la digestion de l'échantillon, ce qui permet une analyse essentiellement non destructive. En évitant le risque d'inexactitudes dues à une dissolution incomplète et à de grandes dilutions, l'analyse complète par fluorescence X (XRF) permet de garantir la précision et la fiabilité des résultats.
Cinq des nombreux avantages de la fluorescence X (XRF) sont abordés :
1. Préparation d'échantillons simple, rapide et sécurisée sans déchets chimiques
2. Technique analytique non destructive
3. Faible coût de propriété
4. Analyse sur le site de production (en ligne)
5. Aucun réétalonnage quotidien n'est nécessaire
Les mesures par XRF sont réalisées directement sur la matière solide (ou liquide) avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Les analyseurs XRF peuvent fonctionner avec n'importe quel type d'échantillon sans dilution ni digestion. Par conséquent, aucune élimination des déchets chimiques n'est nécessaire. Le transfert de liquides d'un récipient à un autre dans des méthodes chimiques humides peut entraîner une contamination et/ou une perte de matière.
La mesure de volumes d'échantillons relativement importants (100 mg à 10 grammes) permet d'obtenir une caractérisation plus représentative de l'échantillon. De plus, les erreurs dues à l'inhomogénéité des échantillons sont facilement minimisées en utilisant des volumes d'échantillons plus importants. La fluorescence X peut mesurer des quantités de l'ordre du gramme sans aucun risque de contamination croisée et l'erreur dans un résultat de fluorescence X est, par conséquent, beaucoup plus faible.
Dans les spectromètres XRF pour paillasse, l'échantillon est excité à l'aide d'un tube à rayons X et les rayons X caractéristiques de l'échantillon sont détectés et traités automatiquement par le logiciel. Ces tubes à rayons X de faible puissance ne produisent pas une grande quantité de photons de rayons X ou de chaleur et n'endommagent donc pas l'échantillon ou n'altèrent pas sa structure cristalline. Les échantillons de forme irrégulière qui entrent dans le spectromètre peuvent être analysés sans qu'il soit nécessaire de procéder à une préparation destructive des échantillons, telle que le broyage et le concassage.
Le même échantillon qui a été analysé par XRF peut ensuite être analysé à l'aide d'autres techniques pour une analyse plus approfondie, si nécessaire.
Si l'on tient compte des coûts initiaux des instruments et de l'infrastructure, ainsi que des coûts d'exploitation liés aux gaz, aux acides, à l'électricité et à l'élimination des déchets, les spectromètres de fluorescence X de paillasse sont beaucoup plus économiques que les spectromètres ICP et AAS. La fluorescence X ne nécessite pas l'utilisation onéreuse d'acides, de gaz et de hottes d'évacuation. La seule exigence est l'alimentation secteur et, dans certains cas, l'utilisation d'hélium pour accroître la sensibilité des éléments légers dans l'échantillon. En outre, les composants individuels des spectromètres de fluorescence X ne sont pas exposés à la friction ni à la chaleur et durent donc de nombreuses années.
Par exemple, l'analyse des huiles ne nécessite que l'utilisation de porte-échantillons pour liquide jetables peu coûteux. Les échantillons solides, comme les métaux, peuvent être mesurés « en l'état » sans préparation d'échantillons. Si ça ce n'est pas rentable !
Comme le spectromètre de fluorescence X de paillasse ne nécessite ni gaz, ni liquides, ni acides, ni hottes, il peut être placé dans l'installation de production, juste à côté de la chaîne de production, pour un contrôle de procédé en ligne. L'instrument est facile à installer et, après une brève formation de base au logiciel, l'utilisateur peut utiliser l'instrument en toute confiance.
Les dernières avancées en matière de technologie d'excitation et de détection rendent la génération actuelle de spectromètres de fluorescence X de paillasse très stable. Par rapport à l'ICP et à l'AAS, la fluorescence X n'a pas besoin de gaz ou de liquides pour fonctionner. Par conséquent, les modifications apportées aux étalonnages en raison de la pureté et de la stabilité des gaz ne posent pas de problème pour la fluorescence X, ce qui rend inutile un réétalonnage quotidien de l'instrument XRF.
Pour les spectromètres de fluorescence X, la dérive instrumentale progressive sur plusieurs années est facilement corrigée dans le logiciel et ne nécessite pas de réétalonnage complet à chaque utilisation du spectromètre.
